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1. (WO2017141627) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE DE SONDE DE DISTRIBUTION

Pub. No.:    WO/2017/141627    International Application No.:    PCT/JP2017/002073
Publication Date: Fri Aug 25 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Tue Jan 24 00:59:59 CET 2017
IPC: G01N 35/10
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
株式会社日立ハイテクノロジーズ
Inventors: IWASE Yuichi
岩瀬 友一
NONAKA Kohei
野中 昂平
MORI Takamichi
森 高通
ISHIZAWA Masato
石沢 雅人
Title: DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ DE NETTOYAGE DE SONDE DE DISTRIBUTION
Abstract:
Selon la présente invention, lorsque des sondes d'échantillonnage 11a et 12a et des sondes de réactif 7a et 8a sont nettoyées dans des réservoirs de liquide de nettoyage 23A et 24A, une unité de commande 21 commande les sondes d'échantillonnage 11a et 12a et les sondes de réactif 7a et 8a de telle sorte que de l'eau de nettoyage interne est évacuée des sondes d'échantillonnage 11a et 12a et des sondes de réactif 7a et 8a vers les réservoirs de liquide de nettoyage 23A et 24A. Ainsi, l'invention concerne un dispositif d'analyse automatique et un procédé de nettoyage de sonde de distribution qui permettent de réduire la quantité de liquide de nettoyage utilisée pour nettoyer des sondes, comparativement à la quantité utilisée habituellement.