WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017141542) APPAREIL D'ESTIMATION DE MASQUE, PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE MASQUE, ET PROGRAMME D'ESTIMATION DE MASQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/141542 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/087996
Date de publication : 24.08.2017 Date de dépôt international : 20.12.2016
CIB :
G10L 21/0272 (2013.01) ,G10L 21/028 (2013.01) ,G10L 21/0308 (2013.01)
Déposants : NIPPON TELEGRAPH AND TELEPHONE CORPORATION[JP/JP]; 5-1, Otemachi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008116, JP
Inventeurs : ITO, Nobutaka; JP
ARAKI, Shoko; JP
NAKATANI, Tomohiro; JP
Mandataire : SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE; Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013, JP
Données relatives à la priorité :
2016-02742416.02.2016JP
Titre (EN) MASK ESTIMATION APPARATUS, MASK ESTIMATION METHOD, AND MASK ESTIMATION PROGRAM
(FR) APPAREIL D'ESTIMATION DE MASQUE, PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE MASQUE, ET PROGRAMME D'ESTIMATION DE MASQUE
(JA) マスク推定装置、マスク推定方法及びマスク推定プログラム
Abrégé : front page image
(EN) A feature extraction unit (11) of a mask estimation apparatus (10) extracts, from a plurality of observation signals generated from observing a plurality of acoustic signals at different positions, a feature amount vector that summarizes the time frequency components of the observation signals at each time frequency point. When the probability distribution of the feature amount vector is modeled by a mixed distribution comprising a plurality of element distributions, a mask update unit (12) estimates a mask indicating the proportion of contribution of each of the element distributions to each of the time frequency points, on the basis of the feature amount vector, the mixed weight of each of the element distributions, and a shape parameter that is a model parameter capable of controlling the shape of each of the element distributions. A mixed weight update unit (13) updates the mixed weight on the basis of the updated mask. A parameter update unit (14) updates the shape parameter by using the feature amount vector and the mask.
(FR) L'invention concerne une unité d'extraction de caractéristique (11) d'un appareil d'estimation de masque (10) qui extrait, à partir d'une pluralité de signaux d'observation générés par l'observation d'une pluralité de signaux acoustiques dans différentes positions, un vecteur de quantité de caractéristique qui résume les composantes de fréquence temporelle des signaux d'observation à chaque point de fréquence temporelle. Lorsque la distribution de probabilité du vecteur de quantité de caractéristique est modélisée par une distribution mixte comprenant une pluralité de distributions d'élément, une unité de mise à jour de masque (12) estime un masque indiquant la proportion de contribution de chacune des distributions d'élément à chacun des points de fréquence temporelle, sur la base du vecteur de quantité de caractéristique, du poids mixte de chacune des distributions d'élément, et d'un paramètre de forme qui est un paramètre de modèle capable de contrôler la forme de chacune des distributions d'élément. Une unité de mise à jour mixte (13) met à jour le poids mixte sur la base du masque mis à jour. Une unité de mise à jour de paramètre (14) met à jour le paramètre de forme en utilisant le vecteur de quantité de caractéristique et le masque.
(JA) マスク推定装置(10)の特徴抽出部(11)は、複数の音響信号を異なる位置で観測した複数の観測信号から、観測信号の時間周波数成分を時間周波数点毎にまとめた特徴量ベクトルを抽出する。マスク更新部(12)は、特徴量ベクトルと、特徴量ベクトルの確率分布を複数の要素分布からなる混合分布でモデル化する際の各要素分布の混合重みと、各要素分布の形状を制御可能なモデルパラメータである形状パラメータとから、各時間周波数点に対して各要素分布が寄与する割合を示すマスクを推定する。混合重み更新部(13)は、更新されたマスクから、混合重みを更新する。パラメータ更新部(14)は、特徴量ベクトルと、マスクとを用いて、形状パラメータを更新する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)