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1. (WO2017140868) SYSTÈME D'EXTRACTION POUR PARTICULES SECONDAIRES CHARGÉES DESTINÉES À ÊTRE UTILISÉES DANS UN SPECTROMÈTRE DE MASSE OU UN AUTRE DISPOSITIF À PARTICULES CHARGÉES

Pub. No.:    WO/2017/140868    International Application No.:    PCT/EP2017/053657
Publication Date: Fri Aug 25 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Sat Feb 18 00:59:59 CET 2017
IPC: H01J 49/06
Applicants: LUXEMBOURG INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY (LIST)
Inventors: DOWSETT, David
Title: SYSTÈME D'EXTRACTION POUR PARTICULES SECONDAIRES CHARGÉES DESTINÉES À ÊTRE UTILISÉES DANS UN SPECTROMÈTRE DE MASSE OU UN AUTRE DISPOSITIF À PARTICULES CHARGÉES
Abstract:
L'invention concerne un spectromètre de masse comprenant un système d'extraction pour des ions secondaires. Le système (18) comprend : un secteur de déflexion sphérique interne (42) ; un secteur de déflexion sphérique externe (44) ; un écartement déflecteur (46) formé entre les secteurs (42, 44) ; et un logement (38) dans lequel sont agencés les secteurs (42, 44). Les secteurs de déflexion (42 ; 44) sont polarisés à des potentiels de retard afin de réduire l'énergie du faisceau d'ions (16) entrant dans l'écartement déflecteur (46). Le système (18) comprend en outre une électrode de disque de sortie (64) avec un trou traversant de sortie (66) centré autour de l'axe de sortie (24), ladite électrode intermédiaire (64) étant polarisée à une tension intermédiaire entre la tension du logement (38) et la tension moyenne des secteurs (42 ; 44). Les trajectoires des ions secondaires deviennent davantage parallèles à l'axe de sortie (24) et se rapprochent dudit axe.