WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017140547) APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ POUR CONTRÔLER UNE UNITÉ DE COMMANDE D’UN DISPOSITIF DE COMMUTATION D’UN SYSTÈME DE COMMUTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/140547    N° de la demande internationale :    PCT/EP2017/052718
Date de publication : 24.08.2017 Date de dépôt international : 08.02.2017
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.12.2017    
CIB :
G01R 31/327 (2006.01)
Déposants : OMICRON ELECTRONICS GMBH [AT/AT]; Oberes Ried 1 6833 Klaus (AT)
Inventeurs : JOCHUM, Michael; (AT).
GEIGER, Stephan; (AT).
KÜNG, Rainer; (AT)
Mandataire : PATENTANWÄLTE PINTER & WEISS OG; Prinz-Eugen-Strasse 70 1040 Wien (AT)
Données relatives à la priorité :
A50094/2016 15.02.2016 AT
Titre (DE) PRÜFGERÄT UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN EINER STEUEREINHEIT EINER SCHALTVORRICHTUNG EINER SCHALTANLAGE
(EN) TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING A CONTROL UNIT OF A SWITCHING DEVICE OF A SWITCHGEAR INSTALLATION
(FR) APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ POUR CONTRÔLER UNE UNITÉ DE COMMANDE D’UN DISPOSITIF DE COMMUTATION D’UN SYSTÈME DE COMMUTATION
Abrégé : front page image
(DE)Um eine verbesserte Funktionsprüfung einer Steuereinheit (6) der Schaltvorrichtung (5) einer elektrischen Schaltanlage (4) durch zu ermöglichen wird ein Prüfgerät (10) angegeben, das einen Signaleingang (9) und eine gesteuerte Stromsenke (20) aufweist, wobei die Stromsenke (20), mit dem Signaleingang (9) verbunden ist und vom Signaleingang (9) einen Eingangsstrom (iq) abzweigt, um eine dynamisch einstellbare Eingangsimpedanz (Z) zu realisieren. Die gesteuerte Stromsenke (20) kann mittels eines gesteuerten Regelkreises realisiert werden, in dem einegesteuerte Spannungsquelle (Uq) und ein Shunt (R1) vorhanden sind, wobei die Höhe des Eingangsstroms (20) der gesteuerten Stromsenke (20) vom einem über den Shunt (R1) fließenden Strom (i1) eingestellt wird, wobei der Strom (i1) von der gesteuerten Spannungsquelle (Uq) eingestellt wird. Es wird zudem ein Verfahren zum Prüfen der Steuereinheit (6) beschrieben, wobei das Prüfgerät (10) einen Signaleingang (9) aufweist, an dem eine Eingangsspannung (Ue) angelegt werden kann und im Prüfgerät (10) eine gesteuerte Stromsenke (20) vom Signaleingang (9) einen Eingangsstrom (iq) abzweigt, und damit eine dynamisch einstellbare Eingangsimpedanz (Z) realisiert. Ebenso wird Verwendung des Prüfgeräts zum Prüfen einer Steuereinheit (6) der Schaltvorrichtung (5) beschrieben, wobei das Prüfgerät (10) die Schaltvorrichtung (5) nachbildet, der Signaleingang (9) des Prüfgeräts mit der Steuereinheit (6) verbunden ist und von der Steuereinheit (6) ein Eingangssignal (Ue) an den Signaleingang (9) ausgegeben wird.
(EN)The invention relates to a testing device (10) to enable improved functional testing of a control unit (6) of the switching device (5) of an electrical switchgear installation (4). Said testing device (10) has a signal input (9) and a controlled current sink (20), wherein the current sink (20) is connected to the signal input (9) and shunts an input current (iq) from the signal input (9) in order to realize a dynamically adjustable input impedance (Z). The controlled current sink (20) can be realized by means of a controlled control circuit, in which a controlled voltage source (Uq) and a shunt (R1) are present, wherein the magnitude of the input current (20) of the controlled current sink (20) is set by a current (i1) flowing across the shunt (R1), wherein the current (i1) is set by the controlled voltage source (Uq). The invention further relates to a method for testing the control unit (6), wherein the testing device (10) has a signal input (9), to which an input voltage (Ue) can be applied, and, in the testing device (10), a controlled current sink (20) shunts an input current (iq) from the signal input (9) and thereby realizes a dynamically adjustable input impedance (Z). The invention further relates to the use of the testing device to test a control unit (6) of the switching device (5), wherein the testing device (10) simulates the switching device (5), the signal input (9) of the testing device is connected to the control unit (6), and an input signal (Ue) is output to the signal input (9) by the control unit (6).
(FR)L’objectif de l’invention est d’améliorer le contrôle du fonctionnement d’une unité de commande (6) du dispositif de commutation (5) d’un système de commutation électrique (4). Cet objectif est atteint selon l’invention par un appareil de test (10) présentant une entrée de signal (9) et un récepteur de courant (20), ce dernier (20) étant raccordé à l’entrée de signal (9), un courant d'entrée (iq) étant prélevé de l’entrée de signal (9) pour réaliser une impédance d'entrée (Z) pouvant être ajustée de manière dynamique. Le récepteur de courant (20) commandé peut être réalisé au moyen d’un circuit de régulation commandé contenant une source de tension (Uq) commandée et un shunt (R1), la valeur du courant d’entrée du récepteur de courant (20) commandé étant ajustée par un courant (i1) passant par le shunt (R1), le courant (i1) étant ajusté par la source de tension (Uq) commandée. L’invention concerne également un procédé pour contrôler l’unité de commande (6), l’appareil de test (10) présentant une entrée de signal (9) à laquelle une tension d’entrée (Ue) peut être appliquée. Dans l’appareil de test (10) un récepteur de courant (20) commandé prélève un courant d’entrée (iq) de l'entrée de signal (9) et réalise ainsi impédance d'entrée (Z) pouvant être ajustée de manière dynamique. L’utilisation de l’appareil de test pour contrôler une unité de commande (6) du dispositif de commutation (5) est également décrite, l’appareil de test (10) reproduisant le dispositif de commutation (5), l’entrée de signal (9) de l’appareil de test étant connectée à l’unité de commande (6) et un signal d'entrée (Ue) étant sorti à l’entrée de signal (9) par l’unité de commande (6).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)