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1. (WO2017139807) SIGNAUX INTERNES DE MESURE D’UN CIRCUIT INTÉGRÉ

Pub. No.:    WO/2017/139807    International Application No.:    PCT/US2017/017743
Publication Date: Fri Aug 18 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Tue Feb 14 00:59:59 CET 2017
IPC: G01R 31/28
Applicants: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
TEXAS INSTRUMENTS JAPAN LIMITED
Inventors: MURTHY, Kushal, D.
PARMAR, Manish
TADEPARTHY, Preetam
VENKATESWARAN, Muthusubramanian
Title: SIGNAUX INTERNES DE MESURE D’UN CIRCUIT INTÉGRÉ
Abstract:
Dans des exemples de la présente invention, un circuit intégré (CI) (100) comprend une logique fonctionnelle (105) comportant une pluralité de lignes de signal internes et une logique d’essai. La logique de test comporte une pluralité d’entrées (207) couplées à la pluralité de lignes de signal internes et avec une sortie couplée à une première broche externe (102) du CI (100). La logique de test comprend un tampon (223), et la logique de test est configurée pour coupler sélectivement (221, 222) chacun des signaux reçus sur la pluralité de lignes de signal directement ou par l’intermédiaire du tampon (223) à la première broche externe (102) du CI (100). La logique de test peut être configurée pour coupler sélectivement un signal reçu sur une deuxième broche externe (101) du CI (100) par l’intermédiaire du tampon (223) à la première broche externe (102) du CI (100) afin d’étalonner le tampon (223).