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1. (WO2017138619) DISPOSITIF D'IRRADIATION, SYSTÈME DE MICROSCOPE À LASER, PROCÉDÉ D'IRRADIATION, ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION PAR MICROSCOPE À LASER
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N° de publication :    WO/2017/138619    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/004801
Date de publication : 17.08.2017 Date de dépôt international : 09.02.2017
CIB :
G02B 21/00 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01), G02B 26/10 (2006.01), G02F 1/11 (2006.01)
Déposants : JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY [JP/JP]; 4-1-8, Hon-cho, Kawaguchi-shi, Saitama 3320012 (JP)
Inventeurs : MIKAMI Hideharu; (JP).
GODA Keisuke; (JP)
Mandataire : YOSHIDA Tadanori; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-022607 09.02.2016 JP
Titre (EN) IRRADIATION DEVICE, LASER MICROSCOPE SYSTEM, IRRADIATION METHOD, AND LASER MICROSCOPE DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'IRRADIATION, SYSTÈME DE MICROSCOPE À LASER, PROCÉDÉ D'IRRADIATION, ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION PAR MICROSCOPE À LASER
(JA) 照射装置、レーザ顕微鏡システム、照射方法及びレーザ顕微鏡の検出方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an irradiation device, a laser microscope system, an irradiation method, and a laser microscope detection method with which the bandwidth of detection light in the form of multiplexed signals can be increased. According to the present invention, laser light beams are separated and caused to enter a first AOD (24) and a second AOD (34) to generate a plurality of beams of first diffracted light and second diffracted light which have different angles of deflection and different levels of frequency shift. A beam splitter (19) superimposes the first diffracted light beams and the second diffracted light beams on each other to generate multiple interfering light beams which have different beat frequencies. An object lens (52) linearly aligns irradiation spots of the multiple interfering light beams in a main scanning direction and irradiates a sample (T) with the interfering light beams. Oscillation of a scan mirror (47a) causes the irradiation spots to move in a sub-scanning direction orthogonal to the main scanning direction. A light detection unit (13) detects fluorescent light emitted from the sample (T) irradiated with the respective interfering light beams.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'irradiation, un système de microscope à laser, un procédé d'irradiation et un procédé de détection par microscope à laser, à l'aide desquels la bande passante d'une lumière de détection sous la forme de signaux multiplexés peut être augmentée. Selon la présente invention, des faisceaux de lumière laser sont séparés et amenés à entrer dans un premier AOD (24) et un deuxième AOD (34) pour générer une pluralité de faisceaux de première lumière diffractée et de deuxième lumière diffractée qui présentent des angles de déflection différents et des niveaux de décalage de fréquence différents. Un séparateur (19) de faisceaux superpose les faisceaux de première lumière diffractée et les faisceaux de deuxième lumière diffractée les uns aux autres pour générer des faisceaux multiples de lumière en interférence qui présentent des fréquences de battement différentes. Un objectif (52) aligne linéairement des taches d'irradiation des faisceaux multiples de lumière en interférence dans une direction principale de balayage et irradie un échantillon (T) avec les faisceaux de lumière en interférence. L'oscillation d'un miroir (47a) de balayage provoque un déplacement des taches d'irradiation dans une direction auxiliaire de balayage orthogonale à la direction principale de balayage. Une unité (13) de détection de lumière détecte une lumière fluorescente émanant de l'échantillon (T) irradié par les faisceaux respectifs de lumière en interférence.
(JA)多重化信号としての検出光の帯域幅をより広くすることができる照射装置、レーザ顕微鏡システム、照射方法及びレーザ顕微鏡の検出方法を提供する。レーザ光を分離して第1AOD(24)、第2AOD(34)にそれぞれ入射することによって偏向角と周波数シフトの大きさが互いに異なる複数の第1回折光及び第2回折光を生成する。ビームスプリッタ(19)で第1回折光と第2回折光とを重ね合わせて、互いにビート周波数が異なる複数の干渉光を生成する。対物レンズ(52)は、主走査方向に複数の干渉光の照射スポットをライン状に並べて形成し、試料(T)に干渉光を照射する。走査ミラー(47a)の揺動で照射スポットを主走査方向と直交する副走査方向に移動する。各干渉光の照射で試料(T)から放出される蛍光を光検出部(13)で検出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)