Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2017138595) INSTRUMENT DE CONTRÔLE, DISPOSITIF DE CONTRÔLE ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/138595 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/004680
Date de publication : 17.08.2017 Date de dépôt international : 09.02.2017
CIB :
G01N 33/579 (2006.01) ,G01N 21/82 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
50
Analyse chimique de matériau biologique, p.ex. de sang, d'urine; Recherche ou analyse par des méthodes faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques par ligands; Recherche ou analyse immunologique
579
faisant intervenir un lysat de limulus
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
75
Systèmes dans lesquels le matériau est soumis à une réaction chimique, le progrès ou le résultat de la réaction étant analysé
77
en observant l'effet sur un réactif chimique
82
produisant un précipité ou une turbidité
Déposants :
積水化学工業株式会社 SEKISUI CHEMICAL CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市北区西天満2丁目4番4号 4-4, Nishitemma 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5308565, JP
公立大学法人大阪府立大学 OSAKA PREFECTURE UNIVERSITY PUBLIC CORPORATION [JP/JP]; 大阪府堺市中区学園町1番1号 1-1, Gakuen-cho, Naka-ku, Sakai-shi, Osaka 5998531, JP
Inventeurs :
赤木 良教 AKAGI, Yoshinori; JP
乾 延彦 INUI, Nobuhiko; JP
今村 一彦 IMAMURA, Kazuhiko; JP
河野 隆昌 KOUNO, Takamasa; JP
野村 茂 NOMURA, Shigeru; JP
遠藤 達郎 ENDO, Tatsuro; JP
Mandataire :
特許業務法人 宮▲崎▼・目次特許事務所 MIYAZAKI & METSUGI; 大阪府大阪市中央区常盤町1丁目3番8号 中央大通FNビル Chuo Odori FN Bldg., 3-8, Tokiwamachi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5400028, JP
Données relatives à la priorité :
2016-02246509.02.2016JP
Titre (EN) IMPLEMENT FOR INSPECTION, INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD
(FR) INSTRUMENT DE CONTRÔLE, DISPOSITIF DE CONTRÔLE ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE
(JA) 検査用器具、検査装置及び検査方法
Abrégé :
(EN) Provided is an implement for inspection with which it is possible for the concentration of a substance being inspected to be measured with high accuracy. The implement for inspection according to the present invention is used for measuring the concentration of a substance being inspected, and is either provided with a compound which is capable of generating a particulate substance by reacting with the substance being inspected, or is provided with a compound which is a particulate substance and is capable of binding to the substance being inspected. The implement for inspection is also provided with a wall portion having a periodic structure on a surface thereof.
(FR) L'invention concerne un instrument de contrôle avec lequel il est possible de mesurer avec une grande précision la concentration d'une substance contrôlée. Le dispositif de contrôle selon la présente invention est utilisé pour mesurer la concentration d'une substance inspectée, et est fourni soit avec un composé capable de générer une substance particulaire par réaction avec la substance contrôlée, soit avec un composé qui est une substance particulaire et qui est capable de se lier à la substance contrôlée. L'instrument de contrôle est également pourvu d'une partie formant paroi ayant une structure périodique sur sa surface.
(JA) 被検査物質の濃度を高い精度で測定することができる、検査用器具を提供する。 本発明に係る検査用器具は、被検査物質の濃度を測定するために用いられる検査用器具であって、被検査物質と反応して、粒状物を生成可能である化合物を備えるか、又は、被検査物質と結合可能でありかつ粒状物である化合物を備え、周期構造を表面に有する壁部をさらに備える。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)