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1. (WO2017138079) DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME INFORMATIQUE

Pub. No.:    WO/2017/138079    International Application No.:    PCT/JP2016/053693
Publication Date: Fri Aug 18 01:59:59 CEST 2017 International Filing Date: Tue Feb 09 00:59:59 CET 2016
IPC: G01N 21/3586
Applicants: PIONEER CORPORATION
パイオニア株式会社
Inventors: OKUDA, Yoshiyuki
奥田 義行
Title: DISPOSITIF DE MESURE, PROCÉDÉ DE MESURE ET PROGRAMME INFORMATIQUE
Abstract:
L'invention concerne un dispositif de mesure (100) comprenant : un moyen d'acquisition (1521) qui obtient une première durée (tai) et une seconde durée (tb1), pour chaque position parmi une pluralité de positions de rayonnement, ladite première durée étant la durée requise pour que les ondes électromagnétiques (THz) rayonnées sur la surface (10a) d'un échantillon (10) atteignent une position prescrite après avoir été réfléchies par la surface et ladite seconde durée étant la durée requise pour que les ondes électromagnétiques atteignent une position prescrite après avoir été réfléchies par la surface arrière de l'échantillon ; un premier moyen de calcul (1522) qui calcule des données virtuelles (Ai, Bi) associées à l'échantillon pour chaque position de la pluralité de positions de rayonnement, sur la base des première et seconde durées, et une valeur virtuelle (nv) pour l'indice de réfraction (n) pour l'échantillon ; et un second moyen de calcul (1522) qui calcule l'indice de réfraction sur la base d'informations statistiques (ρj, kj) pour les données virtuelles.