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1. (WO2017138061) DISPOSITIF DE MESURE
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N° de publication :    WO/2017/138061    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/053632
Date de publication : 17.08.2017 Date de dépôt international : 08.02.2016
CIB :
G01N 21/3581 (2014.01)
Déposants : PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 28-8, Honkomagome 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130021 (JP)
Inventeurs : OKUDA, Yoshiyuki; (JP)
Mandataire : EGAMI, Tatsuo; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 計測装置
Abrégé : front page image
(EN)A measurement device (100) comprising: a first optical system (1641) that causes terahertz waves (THz) generated by a generation unit (110) to be incident on a sample (10) at a first angle (θ) and causes the terahertz waves reflected by the sample to be incident on a detection unit (130); a second optical system (1642) that causes terahertz waves generated by the generation unit to be incident on the sample at a second angle (θ) and causes the terahertz waves reflected by the sample to be incident on the detection unit; and a switching unit (153) that switches the incidence destination for the terahertz waves generated by the generation unit between the first and second optical systems.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure (100) comprenant : un premier système optique (1641) qui provoque l'incidence d'ondes térahertz (THz) générées par une unité de génération (110) sur un échantillon (10) à un premier angle (θ) et qui provoque l'incidence des ondes térahertz réfléchies par l'échantillon sur une unité de détection (130); un second système optique (1642) qui provoque l'incidence d'ondes térahertz générées par l'unité de génération sur l'échantillon à un second angle (θ) et qui provoque l'incidence des ondes térahertz réfléchies par l'échantillon sur l'unité de détection; et une unité de commutation (153) qui commute la destination d'incidence des ondes térahertz générées par l'unité de génération entre les premier et second systèmes optiques.
(JA)計測装置(100)は、生成部(110)が生成したテラヘルツ波(THz)を試料(10)に対して第1角度(θ)で入射させ、試料が反射したテラヘルツ波を検出部(130)に入射させる第1光学系(1641)と、生成部が生成したテラヘルツ波を試料に対して第2角度(θ)で入射させ、試料が反射したテラヘルツ波を検出部に入射させる第2光学系(1642)と、生成部が生成したテラヘルツ波の入射先を、第1及び第2光学系の間で切り替える切替部(153)とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)