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1. (WO2017052300) ANALYSE DE MULTIPLES ENSEMBLES DE DONNÉES POUR DÉTERMINER LA PRÉSENCE OU L'ABSENCE D'ANALYTE CIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/052300    N° de la demande internationale :    PCT/KR2016/010708
Date de publication : 30.03.2017 Date de dépôt international : 23.09.2016
CIB :
G06F 19/24 (2011.01), G06F 19/26 (2011.01), C12Q 1/68 (2006.01)
Déposants : SEEGENE, INC. . [KR/KR]; 8FL., 9FL., 91 , Ogeum-ro, Songpa-gu Seoul 05548 (KR)
Inventeurs : CHUN, Jong Yoon; (KR).
LEE, Young Jo; (KR)
Mandataire : YOON, Dae Woong; Suite 301, Chungdong Building, 1922, Nambusunhwan-ro Gwanak-gu, Seoul 08793 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2015-0135386 24.09.2015 KR
Titre (EN) MULTIPLE DATASET ANALYSIS FOR DETERMINING THE PRESENCE OR ABSENCE OF TARGET ANALYTE
(FR) ANALYSE DE MULTIPLES ENSEMBLES DE DONNÉES POUR DÉTERMINER LA PRÉSENCE OU L'ABSENCE D'ANALYTE CIBLE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to the determination of the presence or absence of a target analyte by a Multiple Dataset Analysis (MDA). The present invention can dramatically reduce errors (particularly, false positive errors) in determination of the presence or absence of a target analyte, by using two or more different types of datasets from an amplification reaction.
(FR)La présente invention concerne la détermination de la présence ou de l'absence d'un analyte cible par une analyse de multiples ensembles de données (MDA). La présente invention peut considérablement réduire des erreurs (en particulier, des erreurs de faux positif) dans la détermination de la présence ou de l'absence d'un analyte cible, en utilisant au moins deux types différents d'ensembles de données à partir d'une réaction d'amplification.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)