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1. (WO2017051447) DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE POUR INSPECTION ET SYSTÈME D'INSPECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/051447    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/076824
Date de publication : 30.03.2017 Date de dépôt international : 23.09.2015
CIB :
G01N 21/84 (2006.01)
Déposants : MACHINE VISION LIGHTING INC. [JP/JP]; Room 302, White Bldg., 1-6-7, Honda, Kokubunji-shi, Tokyo 1850011 (JP)
Inventeurs : MASUMURA Shigeki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-186170 22.09.2015 JP
Titre (EN) INSPECTION ILLUMINATION DEVICE AND INSPECTION SYSTEM
(FR) DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE POUR INSPECTION ET SYSTÈME D'INSPECTION
(JA) 検査用照明装置及び検査システム
Abrégé : front page image
(EN)[Problem] To provide an inspection illumination device that, even when a change in light produced by a characteristic point of an object to be inspected is small, can discern the amount of change of the light within the entire visual field range and can detect that characteristic point in the same conditions. [Solution] In the inspection illumination device 100 is disposed a surface light source 1 and, between the surface light source 1 and an inspection object W, a lens 2 on the side nearer the inspection object W so that at least either one of a light shielding mask M1 and a filter means F1 is positioned centered on the focal position of the lens 2. It is possible to have an irradiation solid angle formed by the lens 2 on the inspection object W when light is emitted from the surface light source 1 include an arbitrary solid angle region with specific optical attributes, and to uniformly set in all regions of the visual field the shape, size, and tilt of the irradiation solid angle of the inspection light and the solid angle region having the specific optical attributes in the irradiation solid angle in accordance with a change produced by the characteristic point of the object to be inspected.
(FR)[Problème] Proposer un dispositif d'éclairage pour inspection qui, même lorsqu'un changement affectant la lumière produite par un point caractéristique d'un objet à inspecter est faible, peut discerner l'ampleur du changement affectant la lumière au sein de l'intégralité de la plage du champ visuel et peut détecter ce point caractéristique dans les mêmes conditions. [Solution] Dans le dispositif d'éclairage pour inspection 100 sont disposées une source de lumière superficielle 1 et, entre la source de lumière superficielle et un objet d'inspection W, une lentille 2 du côté le plus proche de l'objet d'inspection W de sorte qu'au moins soit un masque de protection contre la lumière M1, soit un moyen de filtre F1 soit placé de façon centrée sur la position focale de la lentille 2. Il est possible de faire en sorte qu'un angle solide d'éclairage formé par la lentille 2 sur l'objet d'inspection W lorsque de la lumière est émise à partir de la source de lumière superficielle 1 comprenne une région d'angle solide arbitraire présentant des attributs optiques spécifiques, et de définir de façon uniforme, dans toutes les régions du champ visuel, la forme, la taille et l'inclinaison de l'angle solide d'éclairage de la lumière d'inspection et la région d'angle solide présentant les attributs optiques spécifiques dans l'angle solide d'éclairage en fonction d'un changement produit par le point caractéristique de l'objet à inspecter.
(JA)【課題】被検査対象の特徴点で生じる光の変化がわずかであっても、その光の変化量をその全視野範囲で判別可能とし、その特徴点を、同条件で検出する事が可能な検査用照明装置を提供する。 【解決手段】前記検査用照明装置100において、面光源1と、前記面光源1と検査対象Wとの間に、遮光マスクM1及びフィルター手段F1の少なくともいずれかひとつがそのレンズの焦点位置を中心として位置するように、前記検査対象Wに近い側にレンズ2を配置し、前記面光源1から放射された光が前記レンズ2によって前記検査対象Wに照射される際の照射立体角が、特定の光属性を持つ任意の立体角領域をもつようにして、被検査対象の特徴点で生じる変化に合わせ、前記検査光の照射立体角の形状や大きさ及び傾き角と前記照射立体角内の特定の光属性をもつ立体角領域を、その視野全域において略均一に設定できるようにした。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)