WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017049752) MICROSCOPE STED À TRÈS HAUTE RÉSOLUTION REPOSANT SUR UN FAISCEAU DE BESSEL DE PREMIER ORDRE ET PROCÉDÉ DE RÉGLAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/049752    N° de la demande internationale :    PCT/CN2015/095118
Date de publication : 30.03.2017 Date de dépôt international : 20.11.2015
CIB :
G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
Déposants : PEKING UNIVERSITY [CN/CN]; No. 5 Yiheyuan Road, Haidian District Beijing 100871 (CN)
Inventeurs : SHI, Kebin; (CN).
XI, Peng; (CN).
YU, Wentao; (CN).
GONG, Qihuang; (CN)
Mandataire : BEIJING WANXIANGXINYUE INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; Room 1330, East Wing of Beidaziyuan Building No. 50 Haidian Road, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Données relatives à la priorité :
201510612186.0 23.09.2015 CN
Titre (EN) STED SUPER-RESOLUTION MICROSCOPE BASED ON A FIRST-ORDER BESSEL BEAM, AND ADJUSTING METHOD
(FR) MICROSCOPE STED À TRÈS HAUTE RÉSOLUTION REPOSANT SUR UN FAISCEAU DE BESSEL DE PREMIER ORDRE ET PROCÉDÉ DE RÉGLAGE
(ZH) 一种基于一阶贝塞尔光束的STED超分辨显微镜及调节方法
Abrégé : front page image
(EN)An STED super-resolution microscope based on a first-order Bessel beam, and an adjusting method. The STED microscope comprises: an excitation light source (1), a loss light source (2), an excitation light expanded beam alignment system (3-1), a loss light expanded beam alignment system (3-2), a spiral-shaped phase plate (4), a Bessel beam generation system (6), a loss light focus lens (14), a beam combination system (8), an objective lens (9), a piezoelectric scanning system (10), a filter (11), a signal collection system (12), and a single photon detector (13); the loss light being a first-order Bessel beam, the loss light itself having anti-scattering and self-healing characteristics, and being capable of keeping the spot shape well at a deeper position of a sample, thereby improving the resolution of a deep region of the sample. Compared with the method of achieving deep-layer imaging of an STED super resolution microscope by means of adjusting the correction ring of the objective lens, the present invention is simpler in the experimental operations, without requiring active adjustment; compared with the method in which an adaptive optical system is used, the experimental apparatus is simpler and cheaper.
(FR)La présente invention concerne un microscope STED à très haute résolution reposant sur un faisceau de Bessel de premier ordre et un procédé de réglage. Le microscope STED comprend : une source de lumière d'excitation (1), une source de lumière de perte (2), un système d'alignement (3-1) à faisceau étendu de lumière d'excitation, un système d'alignement (3-2) à faisceau étendu de lumière de perte, une plaque de phase (4) en forme de spirale, un système de génération de faisceau de Bessel (6), une lentille de focalisation (14) de lumière de perte, un système de combinaison (8) de faisceaux, une lentille de focalisation (9), un système de balayage piézoélectrique (10), un filtre (11), un système de collecte de signaux (12), et un détecteur de photon unique (13) ; la lumière de perte étant un faisceau de Bessel de premier ordre, la lumière de perte présentant elle-même des caractéristiques antidiffusion et d'autorégénération, et permettant de bien maintenir la forme de point au niveau d'une position plus profonde d'un échantillon, ce qui permet d'améliorer la résolution d'une région profonde de l'échantillon. Par comparaison avec le procédé d'obtention d'imagerie en couche profonde d'un microscope STED à très haute résolution par ajustement de la bague de correction de la lentille de focalisation, la présente invention est plus simple dans les opérations expérimentales, sans nécessiter de réglage actif ; par comparaison avec le procédé dans lequel est utilisé un système optique adaptatif, l'appareil expérimental est plus simple et plus économique.
(ZH)一种基于一阶贝塞尔光束的STED超分辨显微镜及其调节方法。STED显微镜包括:激发光光源(1)、损耗光光源(2)、激发光扩束准直系统(3-1)、损耗光扩束准直系统(3-2)、螺旋形相位板(4)、贝塞尔光束产生系统(6)、损耗光聚焦透镜(14)、合束系统(8)、物镜(9)、压电扫描系统(10)、滤波片(11)、信号收集系统(12)和单光子探测器(13);损耗光为一阶贝塞尔光束,其本身具有抗散射和自愈特性,在样品较深的位置可以保持很好的光斑形貌,从而提高样品深层区域的分辨率;相比于调节物镜校正环来实现STED超分辨显微镜深层成像的方法,实验操作上较为简单,无需主动调节;相比于使用自适应光学系统的方法,实验装置上较为简单且廉价。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)