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1. (WO2017047111) DISPOSITIF DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/047111    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/053184
Date de publication : 23.03.2017 Date de dépôt international : 03.02.2016
CIB :
H02S 50/00 (2014.01), G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : OMRON CORPORATION [JP/JP]; 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530 (JP)
Inventeurs : TAKEUCHI, Tsuyoshi; (JP).
MISUMI, Shuichi; (JP).
SANO, Akihiko; (JP)
Mandataire : MURAKAMI, Takashi; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-180555 14.09.2015 JP
Titre (EN) TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST
(JA) 検査装置
Abrégé : front page image
(EN)The present invention identifies a disconnection-fault by-pass diode. A test device (11) comprises the following: a signal introduction circuit (26) for applying a disconnection position identification signal (51b) between a positive electrode and a negative electrode of a solar battery string (3); and a fault computation part (45) for identifying the by-pass diode for which a disconnection-fault occurred, on the basis of the alternating current component of voltage between a frame ground and the positive electrode or the alternating current component of voltage between the frame ground and the negative electrode in a case where the disconnection position identification signal (51b) is applied.
(FR)La présente invention identifie une diode de dérivation à défaut de déconnexion. Un dispositif de test (11) selon l'invention comprend les éléments suivants : un circuit d'introduction de signal (26) pour appliquer un signal d'identification de position de déconnexion (51b) entre une électrode positive et une électrode négative d'une chaîne de batteries solaires (3) ; et une partie de calcul de défaut (45) pour identifier la diode de dérivation pour laquelle un défaut de déconnexion est survenu, sur la base de la composante alternative de tension entre une masse de châssis et l'électrode positive ou de la composante alternative de tension entre la masse de châssis et l'électrode négative dans le cas où le signal d'identification de position de déconnexion (51b) est appliqué.
(JA)断線故障のバイパスダイオードを特定する。検査装置(11)は、太陽電池ストリング(3)の正極と負極との間に断線位置特定信号(51b)を印加する信号注入回路(26)と、断線位置特定信号(51b)の印加した場合の、フレームグランドと正極との間の電圧の交流成分またはフレームグランドと負極との間の電圧の交流成分に基づいて断線故障したバイパスダイオードを特定する故障演算部(45)とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)