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1. (WO2017046897) DISPOSITIF D'ALIMENTATION À BAGUETTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/046897    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/076313
Date de publication : 23.03.2017 Date de dépôt international : 16.09.2015
CIB :
H05K 13/02 (2006.01)
Déposants : FUJI MACHINE MFG. CO., LTD. [JP/JP]; 19, Chausuyama, Yamamachi, Chiryu-shi, Aichi 4728686 (JP)
Inventeurs : SUGA Kazufumi; (JP).
KUSAKARI Isao; (JP)
Mandataire : KOBAYASHI Osamu; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) STICK FEEDER
(FR) DISPOSITIF D'ALIMENTATION À BAGUETTE
(JA) スティックフィーダ
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to provide a stick feeder which makes it possible to test an unmounted electronic component, and is capable of reducing the occurrence of faults in a circuit board product. The stick feeder supplies an electronic component by pushing the electronic component outward from the front tip of a stick that houses multiple electronic components. The stick feeder (10) is equipped with: a guide path for guiding an electronic component which is transported from the front end of the stick to an electronic component supply position; and a testing device that is provided in the guide path and tests the quality and state of an electronic component guided along the guide path.
(FR)L'objectif de la présente invention est de pourvoir à un dispositif d'alimentation à baguette qui permette d'essayer un composant électronique non monté, et qui est susceptible de réduire la survenue de défauts dans un produit carte de circuit imprimé. Le dispositif d'alimentation à baguette fournit un composant électronique par poussée du composant électronique vers l'extérieur à partir de l'extrémité avant d'une baguette qui renferme de multiples composants électroniques. Le dispositif d'alimentation à baguette (10) est équipé : d'un chemin de guidage pour guider un composant électronique qui est transporté de l'extrémité avant de la baguette à une position d'alimentation en composants électroniques ; et d'un dispositif d'essai qui est disposé dans le chemin de guidage et essaie la qualité et l'état d'un composant électronique guidé le long du chemin de guidage.
(JA)実装前の電子部品を対象とした検査を可能として、回路基板製品の不良発生率を低減できるスティックフィーダを提供することを目的とする。スティックフィーダは、複数の電子部品を収容するスティックの前端から電子部品を押し出して、当該電子部品を供給する。スティックフィーダ(10)は、スティックの前端から電子部品の供給位置まで移送される電子部品を案内する案内路と、案内路に設けられ、案内路に案内された電子部品の状態または良否を検査する検査装置と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)