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1. (WO2017046844) SYSTÈME LASER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/046844    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/076010
Date de publication : 23.03.2017 Date de dépôt international : 14.09.2015
CIB :
H01S 3/104 (2006.01), H01S 3/097 (2006.01)
Déposants : GIGAPHOTON INC. [JP/JP]; 400, Oaza Yokokurashinden, Oyama-shi, Tochigi 3238558 (JP)
Inventeurs : UMEDA Hiroshi; (JP).
WAKABAYASHI Osamu; (JP)
Mandataire : HOSAKA Nobuhisa; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LASER SYSTEM
(FR) SYSTÈME LASER
(JA) レーザシステム
Abrégé : front page image
(EN)This laser system may be provided with: a first laser device; a second laser device; a common charging voltage measuring unit that measures the charging voltage charged to a first charging capacitor and the charging voltage charged to a second charging capacitor; at least one bleed circuit that individually lowers the charging voltage charged to the first capacitor and the charging voltage charged to the second capacitor; and a bleed circuit control unit that controls the at least one bleed circuit on the basis of the voltage measured by the charging voltage measuring unit.
(FR)La présente invention concerne un système laser pouvant comprendre : un premier dispositif laser ; un second dispositif à laser ; une unité de mesure de tension de charge commune qui mesure la tension de charge chargée dans un premier condensateur de charge et la tension de charge chargée dans un second condensateur de charge ; au moins un circuit de purge qui abaisse séparément la tension de charge chargée dans le premier condensateur et la tension de charge chargée dans le second condensateur ; et une unité de commande de circuit de purge qui commande ledit circuit de purge sur la base de la tension mesurée par l'unité de mesure de tension de charge.
(JA)このレーザシステムは、第1のレーザ装置と、第2のレーザ装置と、第1の充電コンデンサに充電された充電電圧及び第2の充電コンデンサに充電された充電電圧を計測する共通の充電電圧計測部と、第1の充電コンデンサに充電された充電電圧及び第2の充電コンデンサに充電された充電電圧をそれぞれ降下させる少なくとも1つのブリード回路と、充電電圧計測部によって計測された電圧に基づいて少なくとも1つのブリード回路を制御するブリード回路制御部と、を備えてもよい。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)