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1. (WO2017044793) PROCÉDÉS DE CARACTÉRISATION D'UNE RÉSISTANCE À DES MODULATEURS DE CÉRÉBLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/044793    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/051019
Date de publication : 16.03.2017 Date de dépôt international : 09.09.2016
CIB :
G01N 33/574 (2006.01), G01N 33/94 (2006.01), G01N 33/50 (2006.01)
Déposants : THE BRIGHAM AND WOMEN'S HOSPITAL, INC. [US/US]; 75 Francis Street Boston, Massachusetts 02115 (US)
Inventeurs : EBERT, Benjamin Levine; (US).
SIEVERS, Quinlan; (US)
Mandataire : HUNTER-ENSOR, Melissa; (US)
Données relatives à la priorité :
62/217,455 11.09.2015 US
Titre (EN) METHODS OF CHARACTERIZING RESISTANCE TO MODULATORS OF CEREBLON
(FR) PROCÉDÉS DE CARACTÉRISATION D'UNE RÉSISTANCE À DES MODULATEURS DE CÉRÉBLON
Abrégé : front page image
(EN)In one aspect, the present invention features method of identifying a cell resistant to a modulator of Cereblon (CRBN). In another aspect, the present invention features a method of characterizing sensitivity of a subject to a modulator of CRBN. In yet another aspect, the present invention features a method of monitoring sensitivity of a subject to a modulator of CRBN.
(FR)Dans un aspect, la présente invention concerne un procédé d'identification d'une cellule résistante à un modulateur de céréblon (CRBN). Dans un autre aspect, la présente invention concerne un procédé de caractérisation de la sensibilité d'un sujet à un modulateur de CRBN. Dans un autre aspect supplémentaire, la présente invention concerne un procédé de surveillance de la sensibilité d'un sujet à un modulateur de CRBN.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)