WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017044611) SYSTÈME D'OPTIMISATION DE FUITE DE PUISSANCE ET DE RETARD DE TEMPORISATION DANS UN CIRCUIT INTÉGRÉ SUR LA BASE D'UN FACTEUR DE COÛT DE REMPLACEMENT DE CELLULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/044611    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/050753
Date de publication : 16.03.2017 Date de dépôt international : 08.09.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.03.2017    
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTEN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California, US 92121-1714 (US)
Inventeurs : NAGARAJ, Kelageri; (US).
GUPTA, Paras; (US).
YU, Thomas; (US).
NAYAK, Venkatesh; (US).
KODURU, Anil Kumar; (US).
GANGULA VENKATARAMA REDDY, Bhanuprakash; (US)
Mandataire : GELFOUND, Craig A.; (US).
HODGES,, Jonas J.; (US).
HARRIMAN, John D.; (US).
BINDSEIL, James; (US)
Données relatives à la priorité :
62/215,616 08.09.2015 US
15/258,923 07.09.2016 US
Titre (EN) SYSTEM FOR OPTIMIZING POWER LEAKAGE AND TIMING DELAY IN AN INTEGRATED CIRCUIT BASED ON A COST FACTOR OF REPLACING CELLS
(FR) SYSTÈME D'OPTIMISATION DE FUITE DE PUISSANCE ET DE RETARD DE TEMPORISATION DANS UN CIRCUIT INTÉGRÉ SUR LA BASE D'UN FACTEUR DE COÛT DE REMPLACEMENT DE CELLULES
Abrégé : front page image
(EN)A method of and an apparatus for optimizing timing delay and power leakage in a circuit. The apparatus determines at least one path of a plurality of paths in a network of logic elements, the at least one path including a plurality of cells, each of the cells being configured to perform a logical operation. In addition, the apparatus identifies a first cell of the plurality of cells based on a first cost factor associated with replacing the first cell with a first replacement cell that performs the same logical operation, the first cost factor being a function of a power leakage difference and a timing delay difference associated with the first cell and the first replacement cell. Furthermore, the apparatus replaces the first cell with the first replacement cell in the at least one path.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil destinés à optimiser un retard de temporisation et une fuite de puissance dans un circuit. L'appareil détermine au moins un trajet parmi une pluralité de trajets dans un réseau d'éléments logiques, le au moins un trajet comprenant une pluralité de cellules, chacune des cellules étant conçue pour réaliser une opération logique. De plus, l'appareil identifie une première cellule parmi la pluralité de cellules sur la base d'un premier facteur de coût associé au remplacement de la première cellule avec une première cellule de remplacement qui effectue la même opération logique, le premier facteur de coût étant fonction d'une différence de fuite de puissance et d'une différence de retard de temporisation associées à la première cellule et à la première cellule de remplacement. En outre, l'appareil remplace la première cellule par la première cellule de remplacement dans le au moins un trajet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)