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1. (WO2017043942) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON TRIDIMENSIONNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/043942    N° de la demande internationale :    PCT/KR2016/010251
Date de publication : 16.03.2017 Date de dépôt international : 12.09.2016
CIB :
G01N 23/225 (2006.01), G01B 15/02 (2006.01)
Déposants : K-MAC [KR/KR]; (Yongsan-dong) 33, Techno 8-ro, Yuseong-gu, Daejeon 34028 (KR)
Inventeurs : YU, Kyu Sang; (KR).
KIM, Wan Sup; (KR).
KIM, Soo Bang; (KR).
JUNG, Kwang Hwan; (KR).
MIN, Won Ja; (KR).
KIM, Seung Gyun; (KR).
PARK, Kyung Su; (KR).
AN, Sung Yup; (KR).
KIM, Jwa Soon; (KR).
SIM, Chang Sik; (KR)
Mandataire : KO, Young Kap; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2015-0128101 10.09.2015 KR
Titre (EN) METHOD FOR ANALYZING THREE-DIMENSIONAL SPECIMEN
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ÉCHANTILLON TRIDIMENSIONNEL
(KO) 입체 시편을 분석하는 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method for analyzing a three-dimensional specimen, the method comprising: a component measurement step for measuring components constituting a three-dimensional specimen by identifying an energy spectrum generated when an ion beam incident to the three-dimensional specimen collides with the three-dimensional specimen.
(FR)La présente invention concerne un procédé qui permet d'analyser un échantillon tridimensionnel et qui comprend une étape de mesure de composé consistant à mesurer des composé constituant un échantillon tridimensionnel par identification d'un spectre d'énergie généré lorsqu'un faisceau d'ions incident sur l'échantillon tridimensionnel entre en collision avec l'échantillon tridimensionnel.
(KO)본 발명은 입체 시편을 분석하는 방법에 관한 것으로, 입체 시편에 입사시킨 이온빔이 입체 시편과 충돌함에 따라 발생되는 에너지 스펙트럼을 확인함으로써, 입체 시편을 구성하는 성분을 측정하는 성분측정단계를 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)