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1. (WO2017041598) DISPOSITIF D'INSPECTION DE SÉCURITÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/041598    N° de la demande internationale :    PCT/CN2016/092251
Date de publication : 16.03.2017 Date de dépôt international : 29.07.2016
CIB :
G01V 5/00 (2006.01)
Déposants : NUCTECH COMPANY LIMITED [CN/CN]; 2nd Floor, Block A,TongFang Building, Shuangqinglu Haidian District Beijing 100084 (CN)
Inventeurs : ZHAO, Ziran; (CN).
CHEN, Zhiqiang; (CN).
WU, Wanlong; (CN).
ZHANG, Li; (CN).
JIN, Yingkang; (CN).
RUAN, Ming; (CN)
Mandataire : CHINA SCIENCE PATENT & TRADEMARK AGENT LTD.; Suite 4-1105, No. 87, West 3rd Ring North Rd., Haidian District Beijing 100089 (CN)
Données relatives à la priorité :
201510567902.8 08.09.2015 CN
Titre (EN) SAFETY INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE SÉCURITÉ
(ZH) 安全检查设备
Abrégé : front page image
(EN)A safety inspection device (100). The safety inspection device (100) comprises: an X-ray source (10), the X-ray source (10) comprising a ray emitting point (101) and emitting a fan-shaped ray beam (30) from the ray emitting point (101); and a plurality of detector modules (20), each of the detector modules (20) having a ray receiving face (21), and the plurality of detector modules (20) being arranged along a plurality of straight line sections (60), the plurality of straight line sections (60) comprising a first straight line section (61) and two second straight line sections (62), and the two second straight line sections (62) respectively extending from two end portions of the first straight line section (61) towards a ray source (10) side, wherein in a plane where the fan-shaped ray beam (30) is located, a normal line of the ray receiving face (21) of each of the detector modules (20) at a central point substantially passes through the ray emitting point (101) of the X-ray source (10). Using the technical solution of the embodiments, for example, a simple structure can be used to obtain an excellent inspection effect.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'inspection de sécurité. Le dispositif d'inspection de sécurité (100) comprend : une source de rayons X (10), la source de rayons X (10) comprenant un point d'émission de rayons (101) et émettant un faisceau de rayons en forme d'éventail (30) à partir du point d'émission de rayons (101) ; et une pluralité de modules détecteurs (20), chacun des modules détecteurs (20) comportant une face de réception de rayons (21), et la pluralité de modules détecteurs (20) étant disposée le long d'une pluralité de sections en ligne droite (60), la pluralité de sections en ligne droite (60) comprenant une première section en ligne droite (61) et deux secondes sections en ligne droite (62), et les deux secondes sections en ligne droite (62) s'étendant respectivement à partir de deux parties d'extrémité de la première section en ligne droite (61) vers un côté source de rayons (10), et dans un plan où le faisceau de rayons en forme d'éventail (30) est situé, une ligne normale de la face de réception de rayons (21) de chacun des modules détecteurs (20) à un point central passant sensiblement à travers le point d'émission de rayons (101) de la source de rayons X (10). En utilisant la solution technique des modes de réalisation, par exemple, une structure simple peut être utilisée pour obtenir un excellent effet d'inspection.
(ZH)一种安全检查设备(100),该安全检查设备(100)包括:X射线源(10),该X射线源(10)包括射线发射点(101)并且从射线发射点(101)发出扇形射线束(30);以及多个探测器模块(20),每个探测器模块(20)具有射线接收面(21),并且所述多个探测器模块(20)沿多个直线段(60)排列,所述多个直线段(60)包括第一直线段(61)和两个第二直线段(62),并且两个所述第二直线段(62)从所述第一直线段(61)的两个端部分别朝向射线源(10)侧延伸,其中在扇形射线束(30)所在的平面中,每一个探测器模块(20)的射线接收面(21)在中点处的法线大致通过X射线源(10)的射线发射点(101)。采用实施例的技术方案,例如,能够利用简单的结构获得良好的检查效果。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)