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1. (WO2017040316) ANALYSE D'ÉCHANTILLON, DÉTERMINATION DE PRÉSENCE D'UNE SÉQUENCE CIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/040316    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/049071
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 26.08.2016
CIB :
C40B 30/04 (2006.01), C12Q 1/68 (2006.01)
Déposants : THE BROAD INSTITUTE, INC. [US/US]; 415 Main Street Cambridge, MA 02142 (US).
MASSACHUSETTS INSTITUTE OF TECHNOLOGY [US/US]; 77 Massachusetts Avenue Cambridge, MA 02139 (US).
PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE [US/US]; (US)
Inventeurs : METSKY, Hayden; (US).
GNIRKE, Andreas; (US).
MATRANGA, Christian; (US).
PARK, Daniel; (US).
SABETI, Pardis; (US)
Mandataire : NIX, F., Brent; (US)
Données relatives à la priorité :
62/211,541 28.08.2015 US
Titre (EN) SAMPLE ANALYSIS, PRESENCE DETERMINATION OF A TARGET SEQUENCE
(FR) ANALYSE D'ÉCHANTILLON, DÉTERMINATION DE PRÉSENCE D'UNE SÉQUENCE CIBLE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention provides a combination of genomic and computational technologies to provide rapid, portable sample analysis for sequencing or identifying a target sequence involving generating probes for use in analyzing a sample which may comprise a target sequence.
(FR)La présente invention concerne une combinaison de technologies de calcul et génomique de manière à obtenir rapidement, une analyse d'échantillon portable pour le séquençage ou l'identification d'une séquence cible impliquant la génération de sondes pour une utilisation dans l'analyse d'un échantillon qui peut comprendre une séquence cible.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)