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1. (WO2017039936) RÉGULATION THERMIQUE CONDUCTRICE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/039936    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/045475
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 04.08.2016
CIB :
G01R 1/04 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01K 1/16 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864 (US)
Inventeurs : ORCHANIAN, Shant; (US).
CARVALHO, Valquirio N.; (US).
CAMPBELL, Philip; (US).
POLLACK, Matthew David; (US)
Mandataire : PYSHER, Paul A.; (US).
AUGST, Alexander D.; (US).
BUTEAU, Kristen C.; (US).
CAHILL, John J.; (US).
HAULBROOK, William R.; (US).
JARRELL, Brenda Herschbach; (US).
LI, Xiaodong; (US).
LYON, Charles E.; (US).
MEDINA, Rolando; (US).
MONROE, Margo R.; (US).
NGUYEN, Suzanne P.; (US).
NIHAN, Danielle M.; (US).
PACE, Nicholas J.; (US).
PELLIGRINO, Jeffrey S.; (US).
REARICK, John P.; (US).
REESE, Brian E.; (US).
ROHLFS, Elizabeth M.; (US).
SAHR, Robert N.; (US).
SCHONEWALD, Stephanie L.; (US).
SHAIKH, Nishat A.; (US).
SHINALL, Michael A.; (US).
SMITH, Maria C.; (US).
SUH, Su Kyung; (US).
VETTER, Michael L.; (US).
VRABLIK, Tracy L.; (US).
WANG, Gang; (US)
Données relatives à la priorité :
14/841,369 31.08.2015 US
Titre (EN) CONDUCTIVE TEMPERATURE CONTROL
(FR) RÉGULATION THERMIQUE CONDUCTRICE
Abrégé : front page image
(EN)A test system includes a transporter having test sockets, where each test socket is configured to receive a device to be tested by the test system, and each test socket includes an element that is controllable to change a temperature of a device in the test socket through thermal conduction. The test system includes a test rack comprising slots. The transporter is configured for movement into, and out of, a slot of the test rack to test devices in the test sockets.
(FR)L'invention concerne un système de test qui comprend un transporteur ayant des logements de test, chaque logement de test étant configuré pour recevoir un dispositif à tester par le système de test, et chaque logement de test comprenant un élément qui est apte à être commandé pour changer une température d'un dispositif dans le logement de test par conduction thermique. Le système de test comprend un banc de test comprenant des fentes. Le transporteur est configuré pour un mouvement dans une fente du banc de test et hors de cette dernière pour tester des dispositifs dans les logements de test.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)