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1. (WO2017039561) DIFFRACTOMÈTRE À RAYONS X À 360 DEGRÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/039561    N° de la demande internationale :    PCT/US2015/000096
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 04.09.2015
CIB :
G01N 23/20 (2006.01), G01N 23/207 (2006.01), G01N 23/205 (2006.01)
Déposants : CHEUN, William, L. [CN/US]; (US)
Inventeurs : CHEUN, William, L.; (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) THE 360 ALL AROUND TURN X-RAY DIFFRACTOMETER
(FR) DIFFRACTOMÈTRE À RAYONS X À 360 DEGRÉS
Abrégé : front page image
(EN)This application is an improvement of current in use traditional X-ray diffractometer, and has new sample holders, new X-ray diffraction spectrums recording system, and new method to analyze the recorded X-ray diffraction spectrum data. This new 360° All Around Turn X-Ray Diffractometer let samples turn around in X-rays 360° all around, and records the diffraction spectrum, unlike current in use traditional X-ray diffractometers that scan samples in limited less than 180° angles. The current in use X- ray diffractometer's spectrum do not allow the wave form decomposed into simple wave forms., and obtain sample crystal structure parameters. The 360° All Around Turn X-Ray Diffractometer is able to record the X-ray diffractions of single crystal, powder crystal, and macromolecules that have small angle diffraction in one machine, unlike the traditional X-ray diffractometer records the X-ray diffraction separately in different diffractometer, one kind diffractometer records one kind of X-ray diffraction.
(FR)Cette demande est une version perfectionnée du diffractomètre à rayons X classique actuellement utilisé, qui comporte de nouveaux porte-échantillons, un nouveau système d'enregistrement des spectres de diffraction des rayons X, et un nouveau procédé d'analyse des données spectrales de diffraction des rayons X enregistrées. Ce nouveau diffractomètre à rayons X à 360° laisse tourner les échantillons à 360°, et enregistre le spectre de diffraction, contrairement aux diffractomètres à rayons X classiques actuellement utilisés qui balayent les échantillons sous des angles limités inférieurs à 180°. Le spectre du diffractomètre à rayons X actuellement utilisé ne permet pas la décomposition de la forme d'onde en formes d'ondes simples, et l'obtention de paramètres sur la structure cristalline de l'échantillon. Le diffractomètre à rayons X à 360° peut enregistrer les diffractions de rayons X du monocristal, de la poudre de cristal, et de macromolécules ayant un petit angle de réfraction dans une seule et même machine, contrairement au diffractomètre à rayons X classique qui enregistre la diffraction des rayons X séparément dans des diffractomètres différents, un type de diffractomètre enregistrant un type de diffraction des rayons X.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)