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1. (WO2017038714) DISPOSITIF DE MESURE, ET APPAREIL DE MESURE L'UTILISANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/038714    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/075065
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 26.08.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    21.02.2017    
CIB :
G01N 21/3586 (2014.01)
Déposants : OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Yamadaoka, Suita-shi, Osaka 5650871 (JP)
Inventeurs : SERITA Kazunori; (JP).
TONOUCHI Masayoshi; (JP).
MURAKAMI Hironaru; (JP).
KAWAYAMA Iwao; (JP).
KITAGISHI Keiko; (JP)
Mandataire : MAEI Hiroyuki; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-169826 28.08.2015 JP
Titre (EN) DEVICE FOR MEASUREMENT, AND MEASUREMENT APPARATUS USING SAME
(FR) DISPOSITIF DE MESURE, ET APPAREIL DE MESURE L'UTILISANT
(JA) 測定用デバイス、及びそれを用いた測定装置
Abrégé : front page image
(EN)This device for measurement (10) is provided with: a terahertz wave generation element (31), an injection flow channel of a subject to be measured (32), and a metamaterial (35). The terahertz wave generation element (31) generates a terahertz wave. The terahertz wave is irradiated on the injection flow channel of the subject to be measured (32). The metamaterial (35) has one or more split ring resonators (36), which resonate the terahertz wave. At least one of the split-ring resonators (36) includes a cap unit (37) which faces at least a part of the injection flow channel of the subject to be measured (32). The device for measurement (10) changes a frequency spectrum of the terahertz wave which has been transmitted through the injection flow channel of the subject to be measured (32), and transmitted through the cap unit (37) that faces the injection flow channel of the subject to be measured (32), or through the vicinity of the cap unit (37), according to whether the subject to be measured is injected to the injection flow channel of the subject to be measured (32).
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure (10) qui est pourvu : d'un élément de génération d'onde térahertz (31), d'un canal d'écoulement d'injection d'un sujet à soumettre à une mesure (32), et un métamatériau (35). L'élément de génération d'onde térahertz (31) génère une onde térahertz. L'onde térahertz est irradiée sur le canal d'écoulement d'injection du sujet à soumettre à une mesure (32). Le métamatériau (35) a un ou plusieurs résonateurs à anneau fendu (36), qui font résonner l'onde térahertz. Au moins l'un des résonateurs à anneau fendu (36) comprend une unité capuchon (37) qui fait face à au moins une partie du canal d'écoulement d'injection du sujet à soumettre à une mesure (32). Le dispositif de mesure (10) change un spectre de fréquence de l'onde térahertz qui a été transmise à travers le canal d'écoulement d'injection du sujet à soumettre à une mesure (32), et transmise à travers l'unité capuchon (37) qui fait face au canal d'écoulement d'injection du sujet à soumettre à une mesure (32), ou à travers le voisinage de l'unité capuchon (37), selon si le sujet à soumettre à une mesure reçoit une injection dans le canal d'écoulement d'injection du sujet à soumettre à une mesure (32) ou non.
(JA)測定用デバイス(10)は、テラヘルツ波発生素子(31)と、測定対象注入流路(32)と、メタマテリアル(35)とを備える。テラヘルツ波発生素子(31)は、テラヘルツ波を発生する。測定対象注入流路(32)には、テラヘルツ波が照射される。メタマテリアル(35)は、テラヘルツ波を共振させる分割リング共振器(36)を1つ又は複数有している。分割リング共振器(36)のうちの少なくとも1つは、測定対象注入流路(32)の少なくとも一部と対向するギャップ部(37)を含む。測定用デバイス(10)は、測定対象注入流路(32)と、測定対象注入流路(32)に対向するギャップ部(37)又はそのギャップ部(37)付近とを透過した後のテラヘルツ波の周波数スペクトルを、測定対象注入流路(32)に測定対象が注入されているか否かに応じて変化させる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)