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1. (WO2017038701) ANALYSEUR PAR FLUORESCENCE X
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N° de publication : WO/2017/038701 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/075033
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 26.08.2016
CIB :
G01N 23/223 (2006.01) ,G01N 23/207 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
223
en irradiant l'échantillon avec des rayons X et en mesurant la fluorescence X
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
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par diffractométrie en utilisant des détecteurs, p.ex. en utilisant un cristal d'analyse ou un cristal à analyser en position centrale avec un ou plusieurs détecteurs mobiles disposés circonférentiellement
Déposants : RIGAKU CORPORATION[JP/JP]; 9-12, Matsubara-cho 3-chome, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
Inventeurs : HARA, Shinya; JP
MATSUO, Takashi; JP
YAMADA, Yasujiro; JP
HONMA, Hisashi; JP
KATAOKA, Yoshiyuki; JP
Mandataire : SUGIMOTO, Shuji; JP
NODA, Masashi; JP
TSUTSUMI, Takeo; JP
Données relatives à la priorité :
2015-16954328.08.2015JP
Titre (EN) X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER
(FR) ANALYSEUR PAR FLUORESCENCE X
(JA) 蛍光X線分析装置
Abrégé :
(EN) A scanning-type x-ray fluorescence spectrometer according to the present invention is equipped with a quantitative analysis condition setting means (13) for determining whether a newly detected element other than specimen-constituent elements that are set in advance on the basis of qualitative analysis results and semi-quantitative analysis results obtained from a reference specimen (14) should or should not be added as an element to be analyzed, on the basis of the degree of impact of the x-ray fluorescence absorption and excitation on the analysis values of the elements to be analyzed, and the degree of impact of an overlapping interfering line on the analysis lines of the elements to be analyzed.
(FR) Un analyseur par fluorescence de rayons X de type de balayage selon la présente invention est équipé d'un moyen de paramétrage de conditions d'analyse quantitative (13) permettant de déterminer si un élément nouvellement détecté autre que les éléments constitutifs de l'échantillon qui sont fixés à l'avance sur la base de résultats d'analyse qualitative et de résultats d'analyse semi-quantitative obtenus à partir d'un échantillon de référence (14) doit ou ne doit pas être ajouté en tant qu'élément à analyser, sur la base du degré d'impact de l'absorption et de l'excitation en fluorescence de rayons X sur les valeurs d'analyse des éléments à analyser, et du degré d'impact d'une ligne d'interférence avec chevauchement sur les ligne d'analyse des éléments à analyser.
(JA) 本発明の走査型の蛍光X線分析装置は、標準試料(14)の定性分析結果および半定量分析結果に基づいて、あらかじめ設定された試料構成元素以外の新規検出元素について、分析対象元素の分析値に対する蛍光X線の吸収励起影響度と、分析対象元素の分析線に対する妨害線の重なり影響度とから、分析対象元素として追加すべきか否かを判定する定量分析条件設定手段(13)を備える。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)