WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017038302) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE RAYONS X, ET SYSTÈME DE MESURE D'ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/038302    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/071811
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 26.07.2016
CIB :
H01J 35/26 (2006.01), H01J 35/06 (2006.01), H01J 35/10 (2006.01)
Déposants : BRUKER JAPAN K.K. [JP/JP]; 3-9, Moriya-cho, Kanagawa-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2210022 (JP)
Inventeurs : KAWASAKI Katsumi; (JP).
CHIBA Hiroshi; (JP).
KATAYAMA Chuji; (JP)
Mandataire : EINSEL Felix-Reinhard; (JP).
MAEKAWA Junichi; (JP).
NINOMIYA Hiroyasu; (JP).
UESHIMA Rui; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-170101 31.08.2015 JP
2015-214418 30.10.2015 JP
Titre (EN) X-RAY GENERATION DEVICE AND METHOD, AND SAMPLE MEASUREMENT SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE GÉNÉRATION DE RAYONS X, ET SYSTÈME DE MESURE D'ÉCHANTILLON
(JA) X線発生装置及び方法、並びに試料測定システム
Abrégé : front page image
(EN)Provided are: a method and a device for generating x-rays, the x-ray generation device having an extremely simple device configuration and capable of selectively generating x-ray beams in point form or in line form; and a sample measurement system. The x-ray generation device (10) comprises an electron generator (24) and a rotating anticathode (26) which are disposed and fixed under such a positional relationship that an electron source (32) and a peripheral surface portion (38) face one another while a rotation axis (36) is inclined with respect to a first direction (Z direction) and a second direction (X direction).
(FR)L'invention concerne : un procédé et un dispositif permettant de générer des rayons x, le dispositif de génération de rayons x ayant une configuration de dispositif extrêmement simple et étant capable de générer sélectivement des faisceaux de rayons x en forme de point ou en forme de ligne; et un système de mesure d'échantillon. Le dispositif de génération de rayons x (10) comprend un générateur d'électrons (24) et une anticathode tournante (26) qui sont disposés et fixés suivant une relation de position telle qu'une source d'électrons (32) et une partie de surface périphérique (38) se font face tandis qu'un axe de rotation (36) est incliné par rapport à une première direction (direction Z) et une seconde direction (direction X).
(JA)きわめて簡単な装置構成でありながら点状又は線状のX線ビームを選択的に発生可能なX線発生装置及び方法、並びに試料測定システムを提供する。 X線発生装置(10)が備える電子発生器(24)及び回転対陰極(26)は、電子源(32)及び周面部(38)が互いに対向すると共に、回転軸(36)が第1方向(Z方向)及び第2方向(X方向)に対して傾斜する位置関係下に固定配置される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)