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1. (WO2017037796) OUTIL DE COUPE À SURFACE REVÊTUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/037796    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/074505
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 28.08.2015
CIB :
B23B 27/14 (2006.01), B23B 51/00 (2006.01), B23C 5/20 (2006.01)
Déposants : SUMITOMO ELECTRIC HARDMETAL CORP. [JP/JP]; 1-1, Koyakita 1-chome, Itami-shi, Hyogo 6640016 (JP)
Inventeurs : IMAMURA, Shinya; (JP).
PASEUTH, Anongsack; (JP).
DETANI, Takanori; (JP).
KANAOKA, Hideaki; (JP)
Mandataire : FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SURFACE-COATED CUTTING TOOL
(FR) OUTIL DE COUPE À SURFACE REVÊTUE
(JA) 表面被覆切削工具
Abrégé : front page image
(EN)This surface-coated cutting tool (10) is equipped with a substrate (11) and a membrane (12) formed on the substrate. The membrane has an α-Al2O3 layer (16) that contains a plurality of α-Al2O3 crystal particles. The α-Al2O3 layer includes a lower-layer section (16B) having a thickness of 1μm and positioned on the substrate-side in the thickness direction of the α-Al2O3 layer, and an upper-layer section (16A) having a thickness of 2μm and positioned on the surface side opposite the substrate side. Upon identifying the crystal orientation of each of the crystal particles by EBSD analysis using FE-SEM in a cross-section obtained by cutting the α-Al2O3 layer along a plane containing the normal line from the surface of the α-Al2O3 layer, and then creating a color map based thereon, the color map reveals that the proportion in the upper-layer section of crystal particles in which the normal direction from the (001) plane is within the range of ±10° relative to the direction of the normal line from the surface of the α-Al2O3 layer is 90% or more by surface area, and the proportion in the lower-layer section of the same is 50% or less.
(FR)L’outil de coupe à surface revêtue (10) de l’invention est équipé d’un matériau de base (11), et d’un film de revêtement (12) formé sur ce matériau de base. Le film de revêtement possède une couche α-Al23 (16) contenant une pluralité de grains cristallins de α-Al23. La couche α-Al23 contient une partie couche inférieure (16B) positionnée côté matériau de base dans la direction de son épaisseur, et présentant une épaisseur de 1μm, et un partie couche supérieure (16A) positionnée côté surface opposée au côté matériau de base, et présentant une épaisseur de 2μm. L’orientation cristalline de chaque grain cristallin, par rapport à un plan transversal lors de la découpe de la couche α-Al23 selon un plan incluant une ligne normale de la surface de la couche α-Al23, est spécifiée au moyen d’une analyse par diffraction d'électrons rétrodiffusés mettant en œuvre FE-SEM. Sur une table des couleurs, dans le cas où une table des couleurs est établie sur la base de cette orientation cristalline, la partie couche supérieure présente une surface de grains cristallins de direction de ligne normale d’un plan (001) de ±10° par rapport à la direction de ligne normale de la surface de la α-Al23, supérieure ou égale à 90%, et la partie couche inférieure présente une telle surface inférieure ou égale à 50%.
(JA)本発明の表面被覆切削工具(10)は、基材(11)と、該基材上に形成された被膜(12)とを備える。被膜は、複数のα-Al23の結晶粒を含むα-Al23層(16)を有する。α-Al23層は、その厚み方向において、基材側に位置し、かつ1μmの厚みを有する下層部(16B)と、基材側と反対の表面側に位置し、かつ2μmの厚みを有する上層部(16A)と、を含む。α-Al23層の表面の法線を含む平面でα-Al23層を切断したときの断面に対し、FE-SEMを用いたEBSD解析によって結晶粒のそれぞれの結晶方位を特定し、これに基づいたカラーマップを作成した場合に、カラーマップにおいて、上層部は、(001)面の法線方向がα-Al23層の表面の法線方向に対して±10°以内となる結晶粒の占める面積が90%以上であり、下層部は、上記面積が50%以下である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)