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1. (WO2017037402) SYSTÈME DE MESURE DE DURÉE, DE PROFIL TEMPOREL ET DE SPECTRE D'IMPULSION LASER ULTRABRÈVE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/037402    N° de la demande internationale :    PCT/FR2016/052191
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 05.09.2016
CIB :
H01S 3/00 (2006.01), G01J 11/00 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35 place Pey Berland 33000 Bordeaux (FR).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3 rue Michel Ange 75016 Paris (FR)
Inventeurs : DUBROUIL, Antoine; (FR)
Mandataire : CHAUVIN, Vincent; (FR).
ORSINI, Fabienne; (FR).
BLAYO, Nadine; (FR).
BONNANS, Arnaud; (FR).
DE CACQUERAY-VALMENIER, Stanislas; (FR).
CANUEL, Clélia; (FR).
CATHERINE, Alain; (FR).
DEVIC, David; (FR).
LE BIHAN, Jean-Michel; (FR).
LIENARD, Céline; (FR).
LE CACHEUX, Samuel; (FR)
Données relatives à la priorité :
1558223 04.09.2015 FR
Titre (EN) SYSTEM FOR MEASURING THE DURATION, TIME PROFILE AND SPECTRUM OF AN ULTRA-FAST LASER PULSE
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE DURÉE, DE PROFIL TEMPOREL ET DE SPECTRE D'IMPULSION LASER ULTRABRÈVE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a system for measuring the duration, time profile and spectrum of an ultra-fast laser pulse, comprising a single-shot optical correlator with wavefront division (10, 11), a non-linear optical crystal (20) arranged so that a first divided wavefront and a second divided wavefront superpose in the non-linear optical crystal (20), an optical system (22) forming an image of the non-linear optical crystal on a detection system (30), a filtering device (21, 23) arranged between the non-linear optical crystal (20) and the detection system (30) and configured to detect both a second-order single-shot interferometric autocorrelation trace at the optical double frequency (2ω) as well as at least one other first-order single-shot interferometric autocorrelation trace at the fundamental optical frequency (ω) or a second-order intensimetric trace at the optical double frequency (2ω).
(FR)L'invention concerne un système de mesure de durée, de profil temporel et de spectre d'impulsion laser ultrabrève comportant un autocorrélateur optique monocoup comprenant un composant optique à division de front d'onde (10, 11), un cristal optique non linéaire (20) disposé de manière à ce qu'un premier front d'onde divisé et un second front d'onde divisé se superposent dans le cristal optique non linéaire (20), un système optique (22) formant une image du cristal optique non-linéaire sur un système de détection (30), un dispositif de filtrage (21, 23) disposé entre le cristal optique non linéaire (20) et le système de détection (30) et configuré pour détecter, d'une part, une trace d'autocorrélation interférométrique monocoup d'ordre deux à la fréquence optique double (2 ω) et, d'autre part, au moins une autre trace d'autocorrélation monocoup de type interférométrique d'ordre un à la fréquence optique fondamentale (ω) ou de type intensimétrique d'ordre deux à la fréquence optique double (2ω).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)