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1. (WO2017036988) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST ET DE PROGRAMMATION EN SÉRIE DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS SUR UNE CHAÎNE DE PRODUCTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/036988    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/070247
Date de publication : 09.03.2017 Date de dépôt international : 26.08.2016
CIB :
H04R 1/10 (2006.01), H04R 29/00 (2006.01)
Déposants : BRAGI GMBH [DE/DE]; Sendlinger Straße 7 80331 München (DE)
Inventeurs : KINGSCOTT, Lisa; (DE)
Mandataire : NILSSON, Peter; (DE)
Données relatives à la priorité :
62/211,724 29.08.2015 US
Titre (EN) PRODUCTION LINE PCB SERIAL PROGRAMMING AND TESTING METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST ET DE PROGRAMMATION EN SÉRIE DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS SUR UNE CHAÎNE DE PRODUCTION
Abrégé : front page image
(EN)A system and method for testing a wireless earpiece which provides improved efficiencies in manufacturing. Automated testing of one or more printed circuit boards of the wireless earpiece is initiated. The semi-assembled wireless earpiece is tested. End-of-line functional testing is performed. Final acoustic testing of the wireless earpiece is performed.
(FR)L’invention concerne un système et un procédé permettant de tester un écouteur sans fil produisant de meilleurs rendements lors de la fabrication. Le test automatisé d'une ou de plusieurs cartes de circuits imprimés de l'écouteur sans fil est déclenché. L'écouteur sans fil semi-assemblé, est testé. Le test fonctionnel d’extrémité de ligne est effectué. Le test acoustique final de l'écouteur sans fil est effectué.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)