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1. (WO2017033648) ANALYSEUR AUTOMATIQUE ET SYSTÈME D'ANALYSE AUTOMATIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/033648    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/071665
Date de publication : 02.03.2017 Date de dépôt international : 25.07.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.06.2017    
CIB :
G01N 35/00 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : SASAKI Shunsuke; (JP).
IMAI Kenta; (JP).
SUZUKI Toshiharu; (JP).
SAKAMOTO Katsuhiko; (JP)
Mandataire : TODA Yuji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-165362 25.08.2015 JP
Titre (EN) AUTOMATED ANALYZER AND AUTOMATED ANALYSIS SYSTEM
(FR) ANALYSEUR AUTOMATIQUE ET SYSTÈME D'ANALYSE AUTOMATIQUE
(JA) 自動分析装置及び自動分析システム
Abrégé : front page image
(EN)The purpose of the present invention is to attain an automated analyzer that keeps the costs required for inspection to a minimum and is capable of starting measurement immediately after being turned on. As a solution, provided is an automated analyzer provided with an analysis operation part that causes a sample and a reagent to react and on the basis of the reaction result performs analysis of the sample, wherein: the automated analyzer comprises a plurality of units constituting the analysis operation part, a temperature adjustment mechanism that heats or cools the units, a temperature sensor that measures the temperature of the units, and a control part that controls the temperature adjustment mechanism; and the control part sets the measurement startable temperature range of each unit, which is the temperature range of the operation specification thereof, and the operable temperature range, which is a temperature range that is wider than the measurement startable temperature range, and starts the analysis process of the sample when the temperature of the unit has entered the operable temperature range of the unit.
(FR)L'objectif de la présente invention est de réaliser un analyseur automatique qui maintient à un minimum les coûts requis d'inspection et peut démarrer immédiatement une prise de mesure après avoir été activé. Comme solution, il est proposé un analyseur automatique doté d'une partie d'exploitation d'analyse qui provoque la réaction d'un échantillon et d'un réactif et, sur la base du résultat de la réaction, effectue une analyse de l'échantillon, le dispositif d'analyse automatique comprenant une pluralité d'unités constituant la partie d'exploitation d'analyse, un mécanisme de réglage de température qui chauffe ou refroidit les unités, un capteur de température qui mesure la température des unités, et une partie de commande qui commande le mécanisme de réglage de température; et la partie de commande règle la plage de températures de démarrage de prise de mesure de chaque unité, qui est la plage de températures de la spécification d'exploitation correspondante, et la plage de températures d'exploitation, qui est une plage de températures qui est plus importante que la plage de températures de démarrage de prise mesure, et démarre le processus d'analyse de l'échantillon lorsque la température de l'unité est introduite dans la plage de températures d'exploitation de l'unité.
(JA)本発明は、検査に要するコストを最低限にし、電源立ち上げ後、迅速に測定を開始可能な自動分析装置を実現することを目的とする。解決手段は、サンプルと試薬を反応させて当該反応の結果に基づいて前記サンプルの分析を行う分析動作部を備えた自動分析装置において、分析動作部を構成する複数のユニットと、ユニットを加熱または冷却する温度調整機構と、ユニットの温度を測定する温度センサと、温度調整機構を制御する制御部とを備え、制御部は、前記ユニットの動作仕様の温度範囲である測定開始可能温度範囲と、前記測定開始可能温度範囲より広い温度範囲である運転可能温度範囲とを設定し、前記ユニットの温度が当該ユニットの運転可能温度範囲内に入った場合に、前記サンプルの分析処理を開始することによりなる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)