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1. (WO2017033641) ANALYSEUR AUTOMATISÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/033641    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/071656
Date de publication : 02.03.2017 Date de dépôt international : 25.07.2016
CIB :
G01N 35/02 (2006.01), G01N 21/77 (2006.01), G01N 21/82 (2006.01), G01N 35/04 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventeurs : KONISHI Rei; (JP).
MAKINO Akihisa; (JP)
Mandataire : TODA Yuji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-167355 27.08.2015 JP
Titre (EN) AUTOMATED ANALYZER
(FR) ANALYSEUR AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置
Abrégé : front page image
(EN)An automated analyzer makes light from a light source incident on a liquid mixture consisting of a sample and a reagent in a reactor vessel and, by ascertaining with a photodetector the quantity of light transmitted or scattered and the change in the wavelength, performs quantitative and qualitative analysis of an object component. When light other than from the light source such as light from outside is incident on the photodetector, since it is no longer possible to accurately measure the quantity of light and the change in the wavelength, it is also no longer possible to accurately measure the analysis of the object component. In particular, in the constitution of an analysis unit provided with a plurality of analysis ports, during analysis at one analysis port, due to various mechanisms accessing other analysis ports, disturbance light such as light reflected on this mechanism would enter the analysis port under analysis and sometimes have an effect on the measurement result. The present invention provides an automated analyzer that, by means of a first light shielding mechanism and a second light shielding mechanism having an opening part in an analysis unit provided with a plurality of analysis ports, does not allow disturbance light to be incident on the analysis port under analysis so that each mechanism is capable of accessing any analysis port.
(FR)Cette invention porte sur un analyseur automatisé qui rend la lumière émanant d'une source de lumière incidente sur un mélange liquide constitué d'un échantillon et d'un réactif dans une cuve de réacteur et qui, par détermination à l'aide d'un photodétecteur de la quantité de lumière transmise ou diffusée et par modification de la longueur d'onde, procède à une analyse quantitative et qualitative d'un composant à analyser. Le problème abordé par la présente invention est celui selon lequel quand une lumière autre que celle émanant de la source de lumière telle qu'une lumière provenant de l'extérieur est incidente sur le photodétecteur, comme il n'est plus possible de mesurer avec précision la quantité de lumière et le changement de longueur d'onde, il n'est plus possible non plus de mesurer avec précision l'analyse du composant à analyser. En particulier, dans la construction d'une unité d'analyse pourvue d'une pluralité d'orifices d'analyse, pendant l'analyse sur un orifice d'analyse, compte tenu des divers mécanismes d'accès aux autres orifices d'analyse, une lumière perturbatrice, telle qu'une lumière réfléchie sur le mécanisme pourrait pénétrer dans l'orifice d'analyse en cours d'analyse et parfois avoir un effet sur le résultat de la mesure. La solution selon l'invention porte sur un analyseur automatisé qui, par le biais d'un premier mécanisme de protection contre la lumière et d'un second mécanisme de protection contre la lumière comportant une partie ouverture dans une unité d'analyse pourvue d'une pluralité d'orifices d'analyse, ne permet pas à une lumière perturbatrice d'être incidente sur l'orifice d'analyse en cours d'analyse de sorte chaque mécanisme est capable d'accéder à un orifice d'analyse quelconque.
(JA)自動分析装置は、反応容器中の試料と試薬の混合液に光源からの光を入射し、透過もしくは散乱される光量や波長の変化を受光器で捉えることにより目的成分の定量、定性分析を行う。受光器に外部からの光など光源以外の光が入光すると、光の光量や波長の変化を正しく測光することができなくなるため、目的成分の分析も正しく測定できなくなる。特に、複数の分析ポートを備えた分析ユニットの構成において、ある分析ポートにて分析実施中に、他の分析ポートに各種機構がアクセスすることにより、この機構に反射した光等の外乱光が分析中の分析ポートに進入し、測定結果に影響を及ぼすことがあった。 複数の分析ポートを備えた分析ユニットにおいて、第1の遮光機構と開口部を備えた第2の遮光機構により、分析中の分析ポートに外乱光を入射させることなく、任意の分析ポートに各種機構がアクセスすることのできる自動分析装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)