WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2017033277) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'AIDE À L'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/033277    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/073818
Date de publication : 02.03.2017 Date de dépôt international : 25.08.2015
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventeurs : YONEKAWA Akira; (JP).
YOKOHARI Takashi; (JP)
Mandataire : POLAIRE I.P.C.; 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ANALYSIS ASSISTANCE SYSTEM AND ANALYSIS ASSISTANCE METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'AIDE À L'ANALYSE
(JA) 解析支援システム及び解析支援方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided are an analysis assistance system and an analysis assistance method, whereby it is possible to easily divide an object to be analyzed into segments on the basis of past analysis cases, without requiring that the user has any particular degree of skill. This analysis assistance system, 1, has an analysis assistance device 2 connected to a plurality of electronic terminal devices 3a—3d via a network 4. The analysis assistance device 2 is provided with a case database 21 which stores a plurality of past analysis cases, and a case search unit 26 which searches the case database 21, wherein the case search unit 26: searches the case database and thereby extracts past analysis cases similar to an object to be analyzed that is received from one of the electronic terminal devices; generates, from the extracted past analysis cases, a histogram of combinations of segment size and analysis time and/or a histogram of combinations of analysis model shape similarity and analysis time; and displays these histograms on a display unit 34 of the electronic terminal device.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé d'aide à l'analyse, grâce auxquels il est possible de diviser facilement en segments un objet à analyser sur la base de cas d'analyse précédents, sans demander que l'utilisateur ait un quelconque degré de compétence particulier. Le système d'aide à l'analyse 1 possède un dispositif d'aide à l'analyse 2 connecté à une pluralité de dispositifs de terminal électronique 3a-3d par l'intermédiaire d'un réseau 4. Le dispositif d'aide à l'analyse 2 est pourvu d'une base de données de cas 21 qui stocke une pluralité de cas d'analyse précédents, et une unité de recherche de cas 26 qui effectue une recherche dans la base de données de cas 21, l'unité de recherche de cas 26 : recherchant dans la base de données de cas et extrayant ainsi des cas d'analyse précédents, similaires à un objet à analyser, qui sont reçus de l'un des dispositifs de terminal électronique ; générant, à partir des cas d'analyse précédents extraits, un histogramme de combinaisons de taille de segment et de temps d'analyse et/ou un histogramme de combinaisons de similarité de forme de modèle d'analyse et de temps d'analyse ; affichant ces histogrammes sur une unité d'affichage 34 du dispositif de terminal électronique.
(JA)ユーザの熟練度に依ることなく、解析対象を過去の解析事例に基づき容易に部分形状に分割可能とする解析支援システム及び解析支援方法を提供する。 解析支援システム1は、複数の電子端末装置3a~3dとネットワーク4を介して接続される解析支援装置2を有する。解析支援装置2は、過去の解析事例を複数蓄積する事例データベース21と、事例データベース21を検索する事例検索部26を備え、事例検索部26は、事例データベース26を検索し、電子端末装置から受信される解析対象に類似する過去の解析事例を抽出し、抽出された過去の解析事例における、解析時間と部分形状サイズの組み合わせ、及び/又は解析時間と解析モデル化時の形状類似度の組み合わせのヒストグラムを生成し、当該ヒストグラムを電子端末装置の表示部34に表示する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)