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1. (WO2017033037) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2017/033037 N° de la demande internationale : PCT/IB2015/001589
Date de publication : 02.03.2017 Date de dépôt international : 25.08.2015
CIB :
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/04 (2006.01) ,G01J 9/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
1
Photométrie, p.ex. posemètres photographiques
42
en utilisant des détecteurs électriques de radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
1
Photométrie, p.ex. posemètres photographiques
02
Parties constitutives
04
Pièces optiques ou mécaniques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
9
Mesure du déphasage des rayons lumineux; Recherche du degré de cohérence; Mesure de la longueur d'onde des rayons lumineux
Déposants :
UNIVERSITE DE BORDEAUX [FR/FR]; 35, place Pey Berland F-33000 Bordeaux, FR
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris, FR
Inventeurs :
ABRAHAM, Emmanuel Pierre Michel; FR
FREYSZ, Eric; FR
DEGERT, Jérôme; FR
YASUI, Takeshi; JP
CAHYADI, Harsono; JP
Mandataire :
CHAUVIN, Vincent; FR
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TERAHERTZ WAVEFRONT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FRONT D'ONDE TÉRAHERTZ
Abrégé :
(EN) The invention concerns a Terahertz wavefront measurement system comprising a spatial mask (4, 24) selected among a Terahertz lens array (24) or an array of apertures (4, 14). According to the invention, the Terahertz wavefront measurement system comprises an infrared camera (9), a nonlinear electro-optical crystal (5) having a first face and a second face, the first face being placed adjacent to the spatial mask (4, 24) for receiving an array of multispots in the Terahertz frequency range and the second face being placed for receiving an ultrashort pulsed infrared probe beam (20) and for generating a reflected beam (30) in the infrared frequency range having a wavefront spatial distribution depending on the array of multispots in the Terahertz frequency range, the infrared camera (9) being configured for detecting an image of the reflected beam (30) in the infrared frequency range and a processing system for analyzing the image of reflected beam (30).
(FR) L'invention concerne un système de mesure de front d'onde Térahertz comprenant un masque spatial (4, 24) choisi parmi un réseau de lentilles Térahertz (24) ou un réseau d'ouvertures (4, 14). Selon l'invention, le système de mesure de front d'onde Térahertz comprend une caméra infrarouge (9), un cristal électro-optique non linéaire (5) ayant une première face et une seconde face, la première face étant placée de manière adjacente au masque spatial (4, 24) pour recevoir un réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz et la seconde face étant placée pour recevoir un faisceau de sonde infrarouge à impulsions ultracourtes (20) et pour générer un faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges ayant une distribution spatiale de fronts d'ondes dépendante du réseau de points multiples dans la plage de fréquence Térahertz, la caméra infrarouge (9) étant configurée pour détecter une image du faisceau réfléchi (30) dans la gamme de fréquences des infrarouges et un système de traitement pour analyser l'image du faisceau réfléchi (30).
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)