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1. (WO2017002221) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE COURANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2017/002221 N° de la demande internationale : PCT/JP2015/068916
Date de publication : 05.01.2017 Date de dépôt international : 30.06.2015
CIB :
G01N 27/00 (2006.01) ,G01R 19/00 (2006.01) ,G01R 27/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19
Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27
Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02
Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
Déposants :
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventeurs :
奈良 嘉和 NARA Yoshikazu; JP
Mandataire :
青稜特許業務法人 SEIRYO I.P.C.; 東京都中央区八丁堀二丁目24番2号 24-2, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CURRENT MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE MESURE DE COURANT
(JA) 電流計測システムおよび方法
Abrégé :
(EN) The present invention provides a current measurement system having reduced observation signal waveform rounding that can be used, for example, to achieve a nanopore measurement system. The present invention achieves a current measurement system or nanopore measurement system capable of reducing the occurrence of waveform rounding in an observation signal by applying a current/voltage conversion circuit having a function for fixing or semi-fixing a voltage Vb (namely, the voltage applied to a device under measurement) generated at an access resistor R2 terminal 1 and observing the current flowing through the device under measurement.
(FR) La présente invention concerne un système de mesure de courant ayant l'arrondissement de forme d'onde de signal d'observation réduit, qui peut être utilisé, par exemple, pour obtenir un système de mesure de nanopore. La présente invention permet d'obtenir un système de mesure de courant ou un système de mesure nanopore susceptible de réduire l'apparition d'arrondissement de forme d'onde dans un signal d'observation par application d'un circuit de conversion courant/tension ayant une fonction pour fixer ou semi-fixer une tension Vb (c'est-à-dire, la tension appliquée à un dispositif en cours de mesure) générée au niveau d'une borne 1 de résistance R2 d'accès et d'observer du courant circulant à travers le dispositif en cours de mesure.
(JA) 観測信号の波形なまりが低減された電流計測システム,用途として例えば、ナノポア計測システムを実現するための技術を提供する。 アクセス抵抗R2の端子1に発生する電圧Vb(つまり,被測定デバイスに印加される電圧)を固定化,若しくは半固定化する機能を有する電流-電圧変換回路を適用して被測定デバイスに流れる電流を観測することで,観測信号に発生する波形なまりを低減する電流計測システム,ナノポア計測システムを実現する。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)
Également publié sous:
JPWO2017002221