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1. (WO2017001294) APPAREIL DE BALAYAGE À RAYONS X À DÉTECTEUR PLEIN CHAMP
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2017/001294 N° de la demande internationale : PCT/EP2016/064649
Date de publication : 05.01.2017 Date de dépôt international : 24.06.2016
CIB :
A61B 6/00 (2006.01)
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
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Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
Déposants :
KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven, NL
Inventeurs :
KOEHLER, Thomas; NL
MARTENS, Gerhard; NL
PROKSA, Roland; NL
MAACK, Hanns-Ingo; NL
VAN STEVENDAAL, Udo; NL
PFEIFFER, Franz; NL
NOEL, Peter, Benjamin, Theodor; NL
VON TEUFFENBACH, Maximilian; NL
Mandataire :
STEFFEN, Thomas; NL
Données relatives à la priorité :
15174413.330.06.2015EP
Titre (EN) SCANNING X-RAY APPARATUS WITH FULL-FIELD DETECTOR
(FR) APPAREIL DE BALAYAGE À RAYONS X À DÉTECTEUR PLEIN CHAMP
Abrégé :
(EN) An X-ray imaging apparatus with an interferometer (IF) and an X-ray detector (D). A footprint of the X-ray detector (D) is larger than a footprint of the interferometer (IF). The interferometer is moved in scan motion across the detector (D) whilst the detector (D) remains stationary. Preferably the detector is a 2D full field detector.
(FR) La présente invention concerne un appareil d'imagerie à rayons X comprenant un interféromètre (IF) et un détecteur de rayons X (D). Une empreinte du détecteur à rayons X (D) est supérieure à une empreinte de l'interféromètre (IF). L'interféromètre parcourt le détecteur (D) dans un mouvement de balayage tandis que le détecteur (D) reste fixe. De préférence, le détecteur est un détecteur 2D plein champ.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
IN201847002498EP3316782US20180177475CN107847199JP2018526055BR112017028283