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1. (WO2016209265) IDENTIFICATION DE LIMITES DE COUCHE DE FORMATION SUR DES MESURES DE DIAGRAPHIE DE PUITS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/209265 N° de la demande internationale : PCT/US2015/037992
Date de publication : 29.12.2016 Date de dépôt international : 26.06.2015
CIB :
G01V 11/00 (2006.01) ,G01V 3/20 (2006.01) ,G01V 5/12 (2006.01) ,E21B 49/00 (2006.01)
Déposants : LANDMARK GRAPHICS CORPORATION[US/US]; 10200 Bellaire Blvd. Houston, TX 77072, US
Inventeurs : FAR, Mehdi Eftekhari; US
QUIREIN, John Andrew; US
MEKIC, Natasa; US
Mandataire : BRYAN, Jason W.; US
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) IDENTIFYING FORMATION LAYER BOUNDARIES ON WELL LOG MEASUREMENTS
(FR) IDENTIFICATION DE LIMITES DE COUCHE DE FORMATION SUR DES MESURES DE DIAGRAPHIE DE PUITS
Abrégé : front page image
(EN) Systems and methods for identifying formation layer boundaries on well log measurements using a second derivative of the last iteratively smoothed well log measurements and a fluctuation index to determine the extent of smoothing.
(FR) L'invention concerne des systèmes et des procédés qui permettent d'identifier des limites de couche de formation sur des mesures de diagraphie de puits à l'aide d'une deuxième dérivée seconde des dernières mesures de diagraphie de puits lissées de manière itérative et d'un indice de fluctuation pour déterminer la mesure de lissage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)