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1. (WO2016208583) OUTIL DE MAINTIEN DE CIBLE, DISPOSITIF DE MESURE, ET PROCÉDÉ DE MAINTIEN DE CIBLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/208583 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/068404
Date de publication : 29.12.2016 Date de dépôt international : 21.06.2016
CIB :
G01C 15/06 (2006.01) ,G01B 21/00 (2006.01) ,G01B 11/08 (2006.01) ,G01B 11/24 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
15
Instruments de géodésie ou accessoires non prévus dans les groupes G01C1/-G01C13/119
02
Moyens pour marquer les points de mesure
06
Mires d'arpenteur; Repères mobiles
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
08
pour mesurer des diamètres
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
Déposants :
三菱日立パワーシステムズ株式会社 MITSUBISHI HITACHI POWER SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 神奈川県横浜市西区みなとみらい三丁目3番1号 3-1, Minatomirai 3-chome, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2208401, JP
Inventeurs :
小谷 浩輔 KOTANI, Kosuke; JP
Mandataire :
特許業務法人酒井国際特許事務所 SAKAI INTERNATIONAL PATENT OFFICE; 東京都千代田区霞が関3丁目8番1号 虎の門三井ビルディング Toranomon Mitsui Building, 8-1, Kasumigaseki 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000013, JP
Données relatives à la priorité :
2015-12465922.06.2015JP
Titre (EN) TARGET HOLDING TOOL, MEASUREMENT DEVICE, AND TARGET HOLDING METHOD
(FR) OUTIL DE MAINTIEN DE CIBLE, DISPOSITIF DE MESURE, ET PROCÉDÉ DE MAINTIEN DE CIBLE
(JA) ターゲット保持冶具及び測定装置並びにターゲット保持方法
Abrégé :
(EN) The present invention is a target holding tool in which a guide part has two guide surfaces for holding two side surfaces therebetween which are a surface extending in the extension direction of an end surface of a measurement object and a surface extending in the direction orthogonal to the end surface, target contacting parts for contacting the end surfaces of the measurement object are disposed between the guide surfaces, one of the guide surfaces is provided so as to be able to move so as to approach or separate from the other guide surface fixed to a support part, a connecting part is disposed between the guide surfaces of the guide part on only the other guide surface fixed to the support part, a magnet has flat surfaces running along the side surfaces which are the surface extending in the extension direction of the end surface of the measurement object and the surface extending in the direction orthogonal to the end surface, and is capable of magnetic adsorption to the side surfaces of the measurement object, and the guide part has a space equal to or greater than the thickness of the measurement object on the side-surface sides on the reverse sides of the side surfaces from the flat surfaces of the magnet in a state in which the magnet is magnetically adsorbed to the side surfaces of the measurement object, the magnet being able to move along the side surfaces of the measurement object in a state in which the magnet is magnetically adsorbed to the side surfaces of the measurement object.
(FR) La présente invention concerne un outil de maintien de cible dans lequel une partie de guidage comporte deux surfaces de guidage qui permettent de maintenir deux surfaces latérales entre elles, qui sont une surface s'étendant dans la direction d'extension d'une surface d'extrémité d'un objet de mesure et une surface s'étendant dans la direction orthogonale à la surface d'extrémité, des parties de contact de cible pour entrer en contact avec les surfaces d'extrémité de l'objet de mesure sont disposées entre les surfaces de guidage, l'une des surfaces de guidage est conçue de façon à être apte à se déplacer de manière à s'approcher ou à s'éloigner de l'autre surface de guidage fixée à une partie de support, une partie de raccordement est disposée entre les surfaces de guidage de la partie de guidage uniquement sur l'autre surface de guidage fixée à la partie de support, un aimant comporte des surfaces plates s'étendant le long des surfaces latérales qui sont la surface s'étendant dans la direction d'extension de la surface d'extrémité de l'objet de mesure et la surface s'étendant dans la direction orthogonale à la surface d'extrémité, et est apte à une adsorption magnétique sur les surfaces latérales de l'objet de mesure, et la partie de guidage a un espace égal ou supérieure à l'épaisseur de l'objet de mesure sur les côtés de surface latérale sur les côtés opposées des surfaces latérales à partir des surfaces plates de l'aimant dans un état dans lequel l'aimant est magnétiquement adsorbé sur les surfaces latérales de l'objet de mesure, l'aimant étant apte à se déplacer le long des surfaces latérales de l'objet de mesure dans un état dans lequel l'aimant est magnétiquement adsorbé sur les surfaces latérales de l'objet de mesure.
(JA) ガイド部は、測定対象物の端面の延在方向及び端面に直交する方向に延在する面である2つの側面を挟み込む2つのガイド面を有し、各ガイド面の間に測定対象物の端面に接触するターゲットの接触部が配置され、一方のガイド面が支持部に固定された他方のガイド面に対して接近または離隔する移動を可能に設けられ、連結部は、ガイド部の各ガイド面の間であって支持部に固定された他方のガイド面にのみに配置され、磁石は、測定対象物の端面の延在方向及び端面に直交する方向に延在する面である側面に沿っている平坦面を有し、測定対象物の側面に磁気吸着可能であり、ガイド部は、磁石が測定対象物の側面に磁気吸着した状態で磁石の平坦面から側面の反対側の側面側に前記測定対象物の厚さ以上の空間を有する、ターゲット保持冶具をなし、磁石が測定対象物の側面に磁気吸着した状態で測定対象物の側面に沿って移動可能である。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)