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1. (WO2016208316) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DES RENDEMENTS D'APPAREILS D'USINE
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N° de publication : WO/2016/208316 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/065374
Date de publication : 29.12.2016 Date de dépôt international : 25.05.2016
CIB :
G06Q 50/06 (2012.01) ,G05B 23/02 (2006.01) ,G06Q 50/04 (2012.01)
Déposants : HITACHI, LTD.[JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventeurs : HAYASHI Yoshiharu; JP
SEKIAI Takaaki; JP
FUKAI Masayuki; JP
MURAKAMI Masahiro; JP
JYOUE Kazutaka; JP
Mandataire : TODA Yuji; JP
Données relatives à la priorité :
2015-12435422.06.2015JP
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING EFFICIENCIES OF PLANT APPARATUSES
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DES RENDEMENTS D'APPAREILS D'USINE
(JA) プラント機器の効率分析システム及び方法
Abrégé : front page image
(EN) In the event of a reduction in the efficiencies of apparatuses constituting a plant, the degrees of influence of factors that resulted in the efficiency reduction have not been quantitatively evaluated, and thus, it has not been possible to create an optimal maintenance plan. In order to solve this problem, the present invention provides a plant-apparatus efficiency analyzing system for analyzing the efficiencies of apparatuses constituting a plant, the system being characterized by including: an apparatus-efficiency calculating unit that obtains apparatus efficiencies on the basis of measured information about the plant apparatuses; an apparatus-factor obtaining unit that obtains apparatus factors that cause changes in the apparatus efficiencies; and an influence-coefficient calculating unit that obtains influence coefficients indicating the degrees of efficiency changes caused by the individual apparatus factors, and characterized in that the amounts of changes in the efficiencies are obtained on the basis of the influence coefficients.
(FR) Dans le cas d'une réduction des rendements d'appareils constituant une usine, les niveaux d'influence de facteurs qui ont eu pour résultat la réduction du rendement n'ont pas été évalués quantitativement, et ainsi, il n'a pas été possible de créer un plan de maintenance optimal. Afin de résoudre ce problème, la présente invention concerne un système d'analyse du rendement d'appareils d'usine permettant d'analyser les rendements d'appareils constituant une usine, le système étant caractérisé en ce qu'il comprend : une unité de calcul de rendement d'appareils qui acquiert des rendements d'appareils sur la base d'informations mesurées concernant les appareils de l'usine; une unité d'obtention de facteurs d'appareils qui obtient des facteurs d'appareils qui provoquent des changements dans les rendements des appareils; et une unité de calcul de coefficient d'influence qui obtient des coefficients d'influence indiquant les niveaux de changements de rendement provoqués par les facteurs d'appareils individuels, et caractérisés en ce que les quantités de changements dans les rendements sont obtenues sur la base des coefficients d'influence.
(JA) プラント構成機器の効率低下に対して、当該効率低下をもたらす要因の影響度を定量的に評価しておらず、最適な保守計画の立案ができていなかった。本課題を解決する為に本発明は、プラントを構成する機器の効率を分析するプラント機器の効率分析システムにおいて、前記プラント機器の計測情報に基づいて機器効率を求める機器効率演算部と、前記機器効率が変化する要因となる機器要因を取得する機器要因取得部と、各機器要因が与える効率変化の度合いを示す影響係数を求める影響係数演算部と、を備え、前記影響係数に基づいて効率の変化量を求めることを特徴とする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)