WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016203913) PALIER LISSE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/203913    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/065307
Date de publication : 22.12.2016 Date de dépôt international : 24.05.2016
CIB :
F16C 17/10 (2006.01), B21D 39/03 (2006.01), F16C 9/02 (2006.01), F16C 33/14 (2006.01)
Déposants : TAIHO KOGYO CO., LTD. [JP/JP]; 65, Midorigaoka 3-chome, Toyota-shi, Aichi 4718502 (JP)
Inventeurs : TSUBOI, Yoichiro; (JP).
YATSUDA, Koichi; (JP).
UEYAMA, Atsushi; (JP)
Mandataire : ASAHI PATENT FIRM; 3rd Fl., NTF Takebashi Bldg., 15, Kanda-Nishikicho 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010054 (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-123786 19.06.2015 JP
Titre (EN) PLAIN BEARING AND METHOD FOR PRODUCING SAME
(FR) PALIER LISSE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 滑り軸受および滑り軸受の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A bearing 10 comprises: a half bearing member having an inner peripheral surface against which slides a corresponding shaft, and a plurality of recesses provided to a first end surface in the axial direction of said opposing shaft; a first flange member having a plurality of protrusions provided at positions corresponding to the plurality of recesses provided to the first end surface; and a plurality of crimping marks respectively formed in the periphery of each recess when crimping the recess with the plurality of protrusions on the first end surface engaged with the plurality of recesses in order to fix the first flange member to the half bearing member. With regard to the crimping marks that are formed on both sides of at least one of the plurality of recesses, the volume of the deformed part of the crimping mark positioned to the outside in the circumferential direction when viewed from the radial direction of the opposing shaft, is smaller than the volume of the deformed part of the crimping mark positioned to the inside.
(FR)L'invention concerne un palier (10) qui comprend : un élément demi-coussinet ayant une surface périphérique intérieure contre laquelle glisse un arbre correspondant, et une pluralité d'évidements situés sur une première surface terminale dans la direction axiale dudit arbre opposé; un premier élément flasque ayant une pluralité de saillies qui occupent des positions correspondant à la pluralité d'évidements situés sur la première surface terminale; et une pluralité de marques de sertissage formées respectivement à la périphérie de chaque évidement lors du sertissage de l'évidement, la pluralité de saillies sur la première surface terminale étant en contact avec la pluralité d'évidements afin de fixer le premier élément flasque à l'élément demi-coussinet. Pour ce qui est des marques de sertissage formées sur les deux côtés d'au moins un évidement de la pluralité d'évidements, le volume de la partie déformée de la marque de sertissage positionnée à l'extérieur dans la direction circonférentielle lorsqu'elle est vue depuis la direction radiale de l'arbre opposé est inférieur au volume de la partie déformée de la marque de sertissage positionnée à l'intérieur.
(JA)軸受10は、相手軸と摺動する内周面、および当該相手軸の軸方向の第1端面に設けられた複数の凹部を有する半割軸受部材と、前記第1端面に設けられた複数の凹部に対応する位置に設けられた複数の凸部を有する第1フランジ部材と、前記第1フランジ部材を前記半割軸受部材に固定するため、前記第1端面において前記複数の凸部を前記複数の凹部に嵌め合わせた状態で各凹部をかしめた際に各凹部の周辺に形成された複数のかしめ痕とを有し、前記複数の凹部のうち少なくとも一の凹部の両側に形成されたかしめ痕について、前記相手軸の径方向から見たとき、周方向の外側に位置するかしめ痕における変形部分の体積が、内側に位置するかしめ痕における変形部分の体積よりも小さい。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)