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1. (WO2016202149) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE POINT DE POLARISATION DE MODULATEUR À BASE DE SILICIUM

Pub. No.:    WO/2016/202149    International Application No.:    PCT/CN2016/083193
Publication Date: Fri Dec 23 00:59:59 CET 2016 International Filing Date: Wed May 25 01:59:59 CEST 2016
IPC: G02F 1/01
Applicants: ZTE CORPORATION
中兴通讯股份有限公司
Inventors: SHANG, Dongdong
尚冬冬
Title: DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE POINT DE POLARISATION DE MODULATEUR À BASE DE SILICIUM
Abstract:
L'invention concerne un dispositif de commande de point de polarisation de modulateur à base de silicium, qui comprend : un premier contrôleur de phase (Heater1), qui contrôle, selon une tension d'accès, la température appliquée à une première structure de micro-boucle (102) ; un second contrôleur de phase (Heater2) qui contrôle, selon une tension d'accès, la température appliquée à une seconde structure de micro-boucle (103) ; un premier coupleur (109) qui sépare une partie de la lumière qui provient d'un premier guide d'ondes (105) et envoie la lumière vers un premier détecteur optoélectronique (100) ; un second coupleur (110) qui sépare une partie de la lumière qui provient d'un troisième guide d'ondes (108) et fournit la lumière à un second détecteur optoélectronique (101) ; un module d'acquisition qui acquiert la puissance lumineuse moyenne mesurée par le premier détecteur optoélectronique (100) et le second détecteur optoélectronique (101) et l'envoie vers un module de traitement ; le module de traitement étant configuré pour enregistrer la puissance lumineuse moyenne et pour comparer la puissance lumineuse moyenne précédemment enregistrée avec la puissance lumineuse moyenne actuellement enregistrée et, selon les résultats de la comparaison, pour contrôler l'accès à la tension du premier contrôleur de phase (Heater1) et du second contrôleur de phase (Heater2). L'invention concerne également un procédé de commande de point de polarisation utilisé pour le dispositif de commande décrit. Le dispositif de commande et le procédé de commande peuvent contrôler simultanément les états de deux micro-boucles, et contrôler les micro-boucles sur la base de données ; la structure est simple et la sensibilité est élevée.