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1. (WO2016200816) SPECTROMÈTRE D'IMAGERIE À SURFACES DE FORME LIBRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2016/200816 N° de la demande internationale : PCT/US2016/036224
Date de publication : 15.12.2016 Date de dépôt international : 07.06.2016
CIB :
G01J 3/28 (2006.01) ,G01J 3/02 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF ROCHESTER[US/US]; 601 Elmwood Ave., Box URV Rochester, NY 14642, US
Inventeurs : ROLLAND, Jannick, P.; US
REIMERS, Jacob; US
Mandataire : RYAN, Thomas, B.; US
Données relatives à la priorité :
62/172,13707.06.2015US
Titre (EN) IMAGING SPECTROMETER WITH FREEFORM SURFACES
(FR) SPECTROMÈTRE D'IMAGERIE À SURFACES DE FORME LIBRE
Abrégé : front page image
(EN) Expanded performance opportunities for imaging spectrometers are described using ϕ-polynomial freeform surfaces in reflective and diffractive optics. The imaging spectrometers are generally of a type that include an entrance aperture for admitting radiation over a range of wavelengths, a detector array, a primary reflective optic with optical power, a secondary reflective diffractive optic, and a tertiary reflective optic with optical power for collectively imaging the entrance aperture onto the detector array through a range of dispersed positions. One or more of the primary reflective optic, the secondary reflective diffractive optic, and the tertiary reflective optic can include a ϕ-polynomial optical surface with no axis of symmetry and represented by a function that depends on both a radial component and an azimuthal component.
(FR) L'invention concerne des possibilités de performance élargie pour des spectromètres d'imagerie en utilisant des surfaces de forme libre ϕ-polynômiales dans des optiques réfléchissantes et de diffraction. Les spectromètres d'imagerie sont généralement d'un type qui comprend une ouverture d'entrée permettant de recevoir un rayonnement sur une plage de longueurs d'onde, un réseau de détecteurs, une optique réfléchissante primaire ayant une puissance optique, une optique de diffraction réfléchissante secondaire, et une optique réfléchissante tertiaire ayant une puissance optique pour imager collectivement l'ouverture d'entrée sur le réseau de détecteurs sur une plage de positions dispersées. Une ou plusieurs parmi l'optique réfléchissante primaire, l'optique de diffraction réfléchissante secondaire et l'optique réfléchissante tertiaire peuvent comprendre une surface optique ϕ-polynômiale sans axe de symétrie et représentée par une fonction qui dépend à la fois d'une composante radiale et d'une composante azimutale.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)