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1. (WO2016198475) PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT D'IDENTIFIER DES PARTIES DE CIRCUIT INTÉGRÉ SENSIBLES À UN SIGNAL DE TÉLÉGRAPHE ALÉATOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/198475    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/063072
Date de publication : 15.12.2016 Date de dépôt international : 08.06.2016
CIB :
G01R 31/311 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : CIRRUS LOGIC INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR LIMITED [GB/GB]; 7B Nightingale Way Quartermile Edinburgh EH3 9EG (GB)
Inventeurs : MELANSON, John; (US).
BRENNAN, Aaron; (US).
DOUGHERTY, Justin; (US).
BALASUNDARAM, Ramya; (US)
Mandataire : DAVIES, Philip; (GB)
Données relatives à la priorité :
62/173,075 09.06.2015 US
15/175,871 07.06.2016 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING SENSITIVE INTEGRATED CIRCUIT PARTS TO RANDOM TELEGRAPH SIGNAL
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT D'IDENTIFIER DES PARTIES DE CIRCUIT INTÉGRÉ SENSIBLES À UN SIGNAL DE TÉLÉGRAPHE ALÉATOIRE
Abrégé : front page image
(EN)In accordance with embodiments of the present disclosure, a method for identifying a location of an integrated circuit that is sensitive to RTS noise may include applying localized heat to a scan area of the integrated circuit, observing any change in one or more electrical parameters of the integrated circuit in response to the localized heat being applied to the scan are a indicative of sensitivity to RTS noise, and identifying the location sensitive to RTS noise responsive to observing change in one or more electrical parameters of the integrated circuit indicative of sensitivity to RTS noise in response to the localized heat being applied to the scan area.
(FR)Selon des modes de réalisation de la présente invention, un procédé qui permet d'identifier un emplacement d'un circuit intégré qui est sensible à un bruit RTS peut consister à appliquer de la chaleur localisée à une zone de balayage du circuit intégré, à observer tout changement affectant un ou plusieurs paramètres électriques du circuit intégré en réponse à l'application de la chaleur localisée à la zone de balayage indiquant une sensibilité au bruit RTS, et à identifier l'emplacement sensible au bruit RTS en réponse à l'observation d'un changement d'un ou de plusieurs paramètres électriques du circuit intégré indiquant une sensibilité à un bruit RTS en réponse à l'application de la chaleur localisée à la zone de balayage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)