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1. (WO2016196727) PROCÉDÉS DE COLLECTE, DE CORRECTION DE COURANT D'OBSCURITÉ, ET D'ÉTABLISSEMENT DE RAPPORTS DE SPECTRES À PARTIR DE SPECTROMÈTRES À DÉTECTEURS EN RÉSEAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/196727 N° de la demande internationale : PCT/US2016/035413
Date de publication : 08.12.2016 Date de dépôt international : 02.06.2016
CIB :
G01J 3/28 (2006.01) ,G01J 3/44 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
44
Spectrométrie Raman; Spectrométrie par diffusion
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
Déposants :
KAISER OPTICAL SYSTEMS INC. [US/US]; 371 Parkland Plaza Ann Arbor, MI 48103, US
Inventeurs :
WIEGAND, Patrick; US
TEDESCO, James, M.; US
SLATER, Joseph, B.; US
ESMONDE-WHITE, Francis; US
SCHIPPER, Darren; US
Mandataire :
POWERS, Christopher, R.; US
Données relatives à la priorité :
14/728,81802.06.2015US
14/950,59824.11.2015US
Titre (EN) METHODS FOR COLLECTION, DARK CORRECTION, AND REPORTING OF SPECTRA FROM ARRAY DETECTOR SPECTROMETERS
(FR) PROCÉDÉS DE COLLECTE, DE CORRECTION DE COURANT D'OBSCURITÉ, ET D'ÉTABLISSEMENT DE RAPPORTS DE SPECTRES À PARTIR DE SPECTROMÈTRES À DÉTECTEURS EN RÉSEAU
Abrégé :
(EN) Methods and systems for spectrometer dark correction are described which achieve more stable baselines, especially towards the edges where intensity correction magnifies any non-zero results of dark subtraction, and changes in dark current due to changes in temperature of the camera window frame are typically more pronounced. The resulting induced curvature of the baseline makes quantitation difficult in these regions. Use of the invention may provide metrics for the identification of system failure states such as loss of camera vacuum seal, drift in the temperature stabilization, and light leaks. In system aspects of the invention, a processor receives signals from a light detector in the spectrometer and executes software programs to calculate spectral responses, sum or average results, and perform other operations necessary to carry out the disclosed methods. In most preferred embodiments, the light signals received from a sample are used for Raman analysis.
(FR) L'invention concerne des procédés et des systèmes pour une correction de courant d'obscurité de spectromètres qui permettent d'obtenir des lignes de référence plus stables, en particulier vers les bords où la correction d'intensité agrandit tout résultat non nul de soustraction de courant d'obscurité, et des changements de courant d'obscurité en raison de variations de température du cadre de fenêtre d'appareil de prise de vues sont généralement plus prononcés. La courbure induite ainsi obtenue de la ligne de référence rend la quantification difficile dans ces régions. L'utilisation de l'invention peut fournir des métriques pour l'identification d'états défaillants du système tels que la perte du joint à vide de l'appareil de prise de vues, la dérive de la stabilisation de température et des fuites de lumière. Dans des aspects du système de l'invention, un processeur reçoit des signaux en provenance d'un détecteur de lumière dans le spectromètre et exécute des programmes logiciels pour calculer des réponses spectrales, des résultats de sommes ou de moyennes, et effectuer d'autres opérations nécessaires pour mettre en œuvre les procédés de l'invention. Dans la plupart des modes de réalisation préférés, les signaux lumineux reçus d'un échantillon sont utilisés pour l'analyse de Raman.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)