WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016195927) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS PERMETTANT D'ÉTALONNER UN SYSTÈME D'IMAGERIE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ ET PERMETTANT DE CAPTURER UNE IMAGE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2016/195927 N° de la demande internationale : PCT/US2016/031570
Date de publication : 08.12.2016 Date de dépôt international : 10.05.2016
CIB :
G02B 21/00 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION[US/US]; Legal Department, IP Docketing 5823 Newton Drive Carlsbad, California 92008, US
Inventeurs : LYTLE, Steven; US
BOESCHOTEN, Paul; US
GUNDERSON, Andrew; US
RYSTROM, Larry; US
GNEHM, Chris; US
Mandataire : SMITH, Michael; US
Données relatives à la priorité :
62/169,67502.06.2015US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR CALIBRATING A STRUCTURED ILLUMINATION IMAGING SYSTEM AND FOR CAPTURING A STRUCTURED ILLUMINATION IMAGE
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS PERMETTANT D'ÉTALONNER UN SYSTÈME D'IMAGERIE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ ET PERMETTANT DE CAPTURER UNE IMAGE À ÉCLAIRAGE STRUCTURÉ
Abrégé : front page image
(EN) A method for calibrating an imaging system, comprising: illuminating a sample through a pinhole mask using an excitation light; capturing an image of the sample using a sensor; converting the image into data; in a processing module: filtering the data using known spacing of pinholes in the pinhole mask to obtain data that corresponds to the spacing, using a threshold to identify regions of the remaining data that are bright enough to be associated with a pinhole, calculating the centroids of the regions, and fitting a known pattern for the pinhole mask to the regions in order to identify the best fit for the data; and storing, in a storage medium, the best fit data for use in a subsequent confocal capture routine.
(FR) L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système d'imagerie, comprenant les étapes consistant : à éclairer un échantillon à travers un masque à trous d'épingle à l'aide d'une lumière d'excitation ; à capturer une image de l'échantillon à l'aide d'un capteur ; à convertir l'image en données ; dans un module de traitement : à filtrer les données à l'aide d'espacement connu de trous d'épingle dans le masque à trous d'épingle pour obtenir des données qui correspondent à l'espacement, à utiliser un seuil pour identifier des régions des données restantes qui sont suffisamment brillantes pour être associées avec un trou d'épingle, à calculer les centroïdes des régions, et à ajuster un motif connu pour le masque à trous d'épingle sur les régions afin d'identifier l'ajustement optimal pour les données ; et à stocker, dans un support de stockage, les données d'ajustement optimal pour une utilisation ultérieurement dans une routine de capture confocale.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)