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1. (WO2016195766) PERFORMANCE TRANSITOIRE AMÉLIORÉ D'ALIMENTATION ÉLECTRIQUE (INTÉGRITÉ ÉLECTRIQUE) POUR UN ENSEMBLE CARTE SONDE DANS UN ENVIRONNEMENT DE TEST DE CIRCUIT INTÉGRÉ

Pub. No.:    WO/2016/195766    International Application No.:    PCT/US2016/019865
Publication Date: Fri Dec 09 00:59:59 CET 2016 International Filing Date: Sat Feb 27 00:59:59 CET 2016
IPC: G01R 31/28
Applicants: R&D CIRCUITS, INC.
Inventors: WARWICK, Thomas, P.
RUSSELL, James, V.
TURPUSEEMA, Dhananjaya
Title: PERFORMANCE TRANSITOIRE AMÉLIORÉ D'ALIMENTATION ÉLECTRIQUE (INTÉGRITÉ ÉLECTRIQUE) POUR UN ENSEMBLE CARTE SONDE DANS UN ENVIRONNEMENT DE TEST DE CIRCUIT INTÉGRÉ
Abstract:
La présente invention concerne essentiellement trois modes de réalisation différents pour la mise en œuvre d'une distribution de courant électrique à faible impédance (sur la fréquence) à une puce. Une telle basse impédance à une haute fréquence permet à la puce de fonctionner à une vitesse de niveau boîtier, ce qui permet de réduire la perte de rendement au niveau du boîtier. Chaque mode de réalisation aborde un aspect légèrement différent de l'application de sonde de tranche globale, et dans chaque mode de réalisation, cependant, l'amélioration critique de la présente invention est l'emplacement des composants passifs utilisés pour un filtrage/découplage d'alimentation par rapport à l'état de la technique. Les trois modes de réalisation nécessitent un procédé pour incorporer les composants passifs à proximité immédiate du substrat de déplacement pas à pas, ou physiquement dans le substrat de déplacement pas à pas.