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1. (WO2016194426) ENGIN DE CHANTIER POUR MINE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/194426 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/056713
Date de publication : 08.12.2016 Date de dépôt international : 04.03.2016
CIB :
G01S 7/40 (2006.01) ,B60R 21/00 (2006.01) ,E02F 9/26 (2006.01) ,G01S 13/93 (2006.01) ,G08G 1/16 (2006.01)
Déposants : HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO., LTD.[JP/JP]; 5-1, Koraku 2-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1128563, JP
Inventeurs : HIEIDA Yusuke; JP
NAKA Takuya; JP
UOTSU Shinichi; JP
Mandataire : POLAIRE I.P.C.; 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025, JP
Données relatives à la priorité :
2015-11198602.06.2015JP
Titre (EN) WORK MACHINE FOR MINE
(FR) ENGIN DE CHANTIER POUR MINE
(JA) 鉱山用作業機械
Abrégé : front page image
(EN) The purpose of the present invention is to detect and correct the axial deviation (positional deviation) of a plurality of different types of sensors and make accurate obstacle detection possible in a case where obstacle detection is carried out through the combination of the plurality of sensors. A calibration device according to the present invention is provided with: a positional deviation determination permission unit 114 for determining, on the basis of a geometric shape measured by a first measurement device 11, whether an obstacle is suitable for detecting the positional deviation between the first measurement device 11 and a second measurement device 12; and an intersensor calibration unit 117 for detecting the amount of positional deviation between the first measurement device 11 and the second measurement device 12 on the basis of the position detected by the first measurement device 11 for an obstacle determined by the positional deviation determination permission unit 114 to be suitable for detecting the positional deviation and the position detected by the second measurement device 12 for the obstacle.
(FR) L'objet de la présente invention est de détecter et de corriger l'écart axial (écart de position) d'une pluralité de différents types de capteurs et de permettre une détection d'obstacle précise dans un cas où la détection d'obstacle est réalisée au moyen de la combinaison de la pluralité de capteurs. Un dispositif d'étalonnage selon la présente invention est pourvu : d'une unité de permission de détermination d'écart de position 114 permettant de déterminer, sur la base d'une forme géométrique mesurée par un premier dispositif de mesure 11, si un obstacle est approprié pour détecter l'écart de position entre le premier dispositif de mesure 11 et un second dispositif de mesure 12 ; et d'une unité d'étalonnage inter-capteur 117 permettant de détecter la quantité d'écart de position entre le premier dispositif de mesure 11 et le second dispositif de mesure 12 sur la base de la position détectée par le premier dispositif de mesure 11 pour un obstacle déterminé par l'unité de permission de détermination d'écart de position 114 comme étant approprié pour détecter l'écart de position et la position détectée par le second dispositif de mesure 12 de l'obstacle.
(JA) 本発明の目的は、種類の異なる複数のセンサを組み合わせて障害物検出を行う場合において、複数のセンサの軸ずれ(位置ずれ)を検知、補正し、正確な障害物検出を可能にすることにある。本発明のキャリブレーション装置は、第1計測装置11の計測した幾何学的形状に基づいて、障害物が第1計測装置11と第2計測装置12との位置ずれを検出するのに適した障害物か否かを判定する位置ずれ判定許可部114と、位置ずれ判定許可部114によって位置ずれを検出するのに適した障害物であると判定された障害物に対する第1計測装置11による検出位置と、前記障害物に対する第2計測装置12による検出位置とに基づいて、第1計測装置11と第2計測装置12との位置ずれ量を検出するセンサ間キャリブレーション部117とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)