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1. (WO2016191017) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'IDENTIFICATION ET DE CORRECTION DE PARTAGE À L'AIDE D'UN SEUL PIXEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/191017 N° de la demande internationale : PCT/US2016/029465
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 27.04.2016
CIB :
G01T 1/24 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
24
avec des détecteurs à semi-conducteurs
Déposants :
GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; 1 River Road Schenectady, New York 12345, US
Inventeurs :
SHAHAR, Arie; IL
OFAN, Avishai; IL
GLAZER, Yaron; IL
LEVY, Jeffrey Michael; IL
Mandataire :
DIVINE, Lucas; US
Données relatives à la priorité :
14/724,02228.05.2015US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR CHARGE-SHARING IDENTIFICATION AND CORRECTION USING A SINGLE PIXEL
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'IDENTIFICATION ET DE CORRECTION DE PARTAGE À L'AIDE D'UN SEUL PIXEL
Abrégé :
(EN) A radiation detector system is provided including a semiconductor detector, plural pixelated anodes, and at least one processor. At least one of the pixelated anodes is configured to generate a collected charge signal corresponding to charge collected by the pixelated anode and to generate a non-collected charge signal corresponding to charge collected by an adjacent anode. The at least one processor includes a tangible and non-transitory memory having stored thereon instructions configured to direct the at least one processor to determine a collected value for the collected charge signal, to determine a non-collected value for the non-collected charge signal, determine a calibrated value for the non-collected charge signal, determine a total charge produced by a charge sharing event using the collected value and the calibrated value, and count the charge sharing event as a single event if the total charge exceeds a predetermined value.
(FR) La présente invention concerne un système détecteur de rayonnement comprenant un détecteur à semi-conducteur, plusieurs anodes pixelisées et au moins un processeur. Au moins l'une des anodes pixélisées est conçue pour générer un signal de charge collecté correspondant à la charge collectée par l'anode pixélisée et pour générer un signal de charge non collecté correspondant à la charge collectée par un anode adjacente. Ledit processeur comprend une mémoire tangible et non transitoire dans laquelle sont mémorisées des instructions conçues pour diriger ledit processeur pour déterminer une valeur collectée pour le signal de charge collecté, déterminer une valeur non collectée pour le signal de charge non collecté, déterminer une valeur étalonnée pour le signal de charge non-collecté, déterminer une charge totale produite par un événement de partage de charge à l'aide de la valeur étalonnée et la valeur collectée, et compter l'événement de partage de charge comme un seul évènement si la charge totale dépasse une valeur prédéfinie.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)