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1. (WO2016191013) CIRCUITS DE BUS DISTANT POUR TESTER DES NOYAUX DISTANTS PAR GÉNÉRATION AUTOMATIQUE DE MOTIFS DE TEST ET AUTRES TECHNIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/191013    N° de la demande internationale :    PCT/US2016/029352
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 26.04.2016
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.03.2017    
CIB :
G01R 31/3185 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714 (US)
Inventeurs : LAISNE, Michael; (US).
COCHRANE, Bruce; (US).
PRAVEEN IPE, Fnu; (US)
Mandataire : EDWARD, Gary, J.; (US).
WELCH, Henry L.; (US)
Données relatives à la priorité :
62/166,670 26.05.2015 US
14/794,774 08.07.2015 US
Titre (EN) REMOTE BUS WRAPPER FOR TESTING REMOTE CORES USING AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION AND OTHER TECHNIQUES
(FR) CIRCUITS DE BUS DISTANT POUR TESTER DES NOYAUX DISTANTS PAR GÉNÉRATION AUTOMATIQUE DE MOTIFS DE TEST ET AUTRES TECHNIQUES
Abrégé : front page image
(EN)A wrapper for automatic test pattern generation uses the functional bus when testing cores on an integrated circuit device. The functional bus is between the bus wrapper and the cores. During normal operation, the functional bus operates as a standard bus to communicate functional inputs and outputs between the cores and in/out of the integrated circuit device. During test operation, test signals are communicated on the functional bus. As a result, each core does not require its own wrapper; this allows the bus wrapper to reduce the area occupied by test circuitry.
(FR)L'invention concerne des circuits pour génération automatique de motifs de test utilisant un bus fonctionnel lorsque des noyaux sont testés sur un dispositif à circuit intégré. Le bus fonctionnel est situé entre les circuits de bus et les noyaux. Pendant un fonctionnement normal, le bus fonctionnel fonctionne comme un bus standard pour communiquer des entrées et des sorties fonctionnelles entre les noyaux et dans/hors du dispositif à circuit intégré. Au cours d'une opération de test, des signaux de test sont communiqués sur le bus fonctionnel. En conséquence, chaque noyau ne nécessite pas d'avoir ses propres circuits de bus, ce qui permet aux circuits de bus de réduire la zone occupée par un ensemble de circuits de test.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)