Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2016190523) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE MESURE DE RÉSISTANCE DE DIODE ÉLECTROLUMINESCENTE

Pub. No.:    WO/2016/190523    International Application No.:    PCT/KR2016/001644
Publication Date: Fri Dec 02 00:59:59 CET 2016 International Filing Date: Fri Feb 19 00:59:59 CET 2016
IPC: G01R 27/08
G01R 31/26
G01R 19/165
Applicants: INDUSTRY-UNIVERSITY COOPERATION FOUNDATION HANYANG UNIVERSITY ERICA CAMPUS
한양대학교 에리카산학협력단
Inventors: SHIM, Jong-In
심종인
HAN, Dong Pyo
한동표
SHIN, Dong-Soo
신동수
Title: PROCÉDÉ ET APPAREIL DE MESURE DE RÉSISTANCE DE DIODE ÉLECTROLUMINESCENTE
Abstract:
L'invention concerne un procédé et un appareil pour mesurer la résistance d'une diode électroluminescente, aptes à mesurer avec précision la valeur de résistance de la diode électroluminescente d'une manière ne provoquant pas de dommages. Le procédé pour mesurer la résistance de la diode électroluminescente comprend les étapes consistant : à mesurer une première composante de courant d'électroluminescence à partir d'un courant fourni à la diode électroluminescente, en utilisant un rendement quantique interne de la diode électroluminescente ; à générer une seconde composante de courant d'électroluminescence par modélisation de la première composante de courant d'électroluminescence ; et à calculer la valeur de résistance de la diode électroluminescente à l'aide des première et seconde composantes de courant d'électroluminescence en fonction d'un courant appliqué à la diode électroluminescente.