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1. (WO2016190308) PLAQUE DE BLINDAGE ET DISPOSITIF DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/190308 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/065319
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 24.05.2016
CIB :
G01J 5/48 (2006.01) ,G01J 5/00 (2006.01) ,G01J 5/06 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
5
Pyrométrie des radiations
48
en utilisant des moyens entièrement visuels
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
5
Pyrométrie des radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
5
Pyrométrie des radiations
02
Détails
06
Dispositions pour éliminer les effets des radiations perturbatrices
Déposants : HAMAMATSU PHOTONICS K.K.[JP/JP]; 1126-1, Ichino-cho, Higashi-ku, Hamamatsu-shi, Shizuoka 4358558, JP
Inventeurs : NAKAMURA Tomonori; JP
Mandataire : HASEGAWA Yoshiki; JP
Données relatives à la priorité :
2015-10779827.05.2015JP
Titre (EN) SHIELDING PLATE AND MEASUREMENT DEVICE
(FR) PLAQUE DE BLINDAGE ET DISPOSITIF DE MESURE
(JA) 遮蔽板及び測定装置
Abrégé :
(EN) This shielding plate for contactlessly measuring the temperature of a semiconductor device is provided with a substrate capable of adjusting temperature. The amount of thermal radiation from a black body surface positioned at one side of the substrate is greater than the amount of thermal radiation from a reflective surface positioned at the opposite side to the black body surface. The black body surface emits infrared.
(FR) L'invention concerne une plaque de blindage pour mesurer sans contact la température d'un dispositif semi-conducteur, qui comprend un substrat apte à régler la température. La quantité de rayonnement thermique provenant d'une surface de corps noir placée sur un côté du substrat est supérieure à la quantité de rayonnement thermique provenant d'une surface réfléchissante positionnée sur le côté opposé à la surface de corps noir. La surface de corps noir émet des infrarouges.
(JA)  遮蔽板は、半導体デバイスの温度の非接触測定に係る遮蔽板であって、温度を調整可能な基材を備え、基材の一方側に位置する黒体面の熱放射量は、黒体面の反対側に位置する反射面の熱放射量よりも大きく、黒体面は、赤外線を放出する黒体面である。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)