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Observations et contact
1. (WO2016189781) DISPOSITIF D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUES DYNAMIQUES ET PROCÉDÉ D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUES DYNAMIQUES
Données bibliographiques PCT
Texte intégral
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Phase nationale
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N° de publication :
WO/2016/189781
N° de la demande internationale :
PCT/JP2016/001414
Date de publication :
01.12.2016
Date de dépôt international :
14.03.2016
CIB :
G01R 31/26
(2006.01) ,
H02H 3/08
(2006.01)
G
PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26
Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H
ÉLECTRICITÉ
02
PRODUCTION, CONVERSION OU DISTRIBUTION DE L'ÉNERGIE ÉLECTRIQUE
H
CIRCUITS DE PROTECTION DE SÉCURITÉ
3
Circuits de protection de sécurité pour déconnexion automatique due directement à un changement indésirable des conditions électriques normales de travail avec ou sans reconnexion
08
sensibles à une surcharge
Déposants :
SINTOKOGIO, LTD.
[JP/JP]; 28-12, Meieki 3-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4506424, JP
Inventeurs :
SAKAMOTO, Yoichi
; JP
TAKITA, Nobuyuki
; JP
Mandataire :
HASEGAWA, Yoshiki
; JP
Données relatives à la priorité :
2015-108362
28.05.2015
JP
Titre
(EN)
DYNAMIC CHARACTERISTICS TEST DEVICE AND DYNAMIC CHARACTERISTICS TEST METHOD
(FR)
DISPOSITIF D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUES DYNAMIQUES ET PROCÉDÉ D'ESSAI DE CARACTÉRISTIQUES DYNAMIQUES
Abrégé :
(EN)
A dynamic characteristics test device comprises a power source, a reactor, a selection circuit including a first switch unit and a second switch unit connected electrically in series, and an overcurrent preventing circuit configured to consume an energy stored in the reactor. A first connection part electrically connecting the first semiconductor and the second semiconductor, and a second connection part electrically connecting the first switch unit and the second switch unit are electrically connected via the reactor. The overcurrent preventing circuit includes a third switch unit and a first diode connected electrically in series, and a fourth switch unit and a second diode connected electrically in series. A forward direction of the first diode is a direction from the first connection part toward the second connection part, and a forward direction of the second diode is a direction from the second connection part toward the first connection part.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif d'essai de caractéristiques dynamiques qui comprend une source d'énergie électrique, un réacteur, un circuit de sélection qui comprend une première unité de commutation et une seconde unité de commutation connectées électriquement en série, et un circuit de prévention de surintensité conçu pour consommer une énergie stockée dans le réacteur. Une première partie de connexion qui connecte électriquement le premier semi-conducteur et le second semi-conducteur, et une deuxième partie de connexion qui connecte électriquement la première unité de commutation et la deuxième unité de commutation sont connectées électriquement par l'intermédiaire du réacteur. Le circuit de prévention de surintensité comprend une troisième unité de commutation et une première diode connectées électriquement en série, et une quatrième unité de commutation et une seconde diode connectées électriquement en série. Une direction directe de la première diode est une direction à partir de la première partie de connexion vers la deuxième partie de connexion, et une direction directe de la seconde diode est une direction à partir de la deuxième partie de connexion vers la première partie de connexion.
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
anglais (
EN
)
Langue de dépôt :
anglais (
EN
)